35、数字电路测试技术解析

数字电路测试技术解析

1. 边界扫描技术

边界扫描技术具有强大的功能，它能够将电路与系统的其他部分隔离开来。在边界扫描中，模式 (b)、(d)、(e) 和 (f) 是相同的扫描模式，边界单元呈级联状态。因此，仅需两个信号就可以实现边界扫描控制，这两个控制信号在芯片上进行解码，从而产生四种测试条件。

在组装好的印刷电路板 (PCB) 上，多个集成电路 (IC) 都由 JTAG 四线测试总线控制，这四条线分别是 TDI、TDO、TMS 和 TCK。每个 IC 都有自己的边界扫描功能，这使得它可以独立进行测试，也可以通过 PCB 互连向其他电路或组件接收或传输测试数据。

此外，还可以对芯片进行 BILBO 自测试，在测试结束时，I/O 边界扫描会输出一个 MISR 测试签名。目前，IC 供应商还提供了一些现成的芯片组，具备以下功能：
- 测试总线选择：可以在复杂的 PCB 组件中选择某些扫描路径，并将其余部分短路。
- 测试总线控制器电路：用于对扫描路径数据进行整体管理。
- 扫描测试电路：用于捕获总线上的数据，或将测试数据加载到总线上以替代正常数据。

由于在复杂组件中开发和跟踪所有测试数据需要进行大量的管理工作，因此专门为边界扫描协议和系统测试数据生成设计了 CAD 资源。

功能	描述
测试总线选择	在复杂 PCB 组件中选择扫描路径并短路其余部分
测试