凡是过往，皆为序章

在使用BQ76942的过程中，我发现充电时这款AFE有个bug就是偶发自行休眠，这个bug发生的具体原因我还没找到，这里做一个学习记录。TI 的这款AFE芯片目前是存在充电休眠的偶发现象的，根本原因无从得知，可能是一个bug，目前已采取其他手段对这个问题进行规避。

电芯电压采样线断线会对采样和故障诊断造成干扰，因此电芯采样线断线检测也是重要的故障诊断需求。以上便是今天的主要分享内容，采样线断线实际使用过程中可能会发生我们意想不到的事情，需要总结积累经验。

BMS中如果电池包电压过高达到极限电压阈值，是不允许再进行充放电的，使用过程中触发极限过压的处理方式一般是熔断保险丝。下面我们看一下SOV配置有哪些注意事项。按照以上配置能满足大部分项目要求，能确保过压故障正常触发且不易误触，毕竟保险丝属于不可恢复的元器件，熔断就要更换。

第一章 BQ76942配置：使用AFE FET寄存器来控MOS第二章 BQ76942配置：与MCU通信——软件I2C or 硬件I2C？第三章 BQ76942配置：电流采样配置第四章 BQ76942配置：过压保护（SOV）配置第五章 BQ76942配置：采样断线对MOS的影响第六章 BQ76942配置：充电时AFE自行休眠现象我们都知道I2C分为软件I2C和硬件I2C，软件I2C是通过模拟电平的时序来实现和器件之间的通信，硬件I2C则是直接通过MCU内置的I2C模块进行通信。BQ76942这款AF

BQ76942提供了多个数字化电流值， 包括两个使用单独的硬件数字滤波器 CC1 和 CC2， 以及一个固件滤波器 CC3。下面将介绍如何查询AFE采集的电流，以及相应的配置。以上便是电流采样的主要配置，主要就是配置好单位，两个增益寄存器，就可以使用直接命令进行进行电流采样了。

BQ76942 产品是一款高度集成的精密电池监控器和保护器， 适用于 3 节至 10 节串联锂离子、锂聚合物和磷酸铁锂电池包。BQ76952 器件支持系统中保护 FET 的串联配置和并联配置， 以及不使用一个或两个 FET 的系统。

可能大家也遇过这样的情形：使用I2C进行通信时，用示波器或者逻辑分析仪抓取I2C的波形，会看到SDA上出现小于1ms的毛刺，但是数据传输又是正常的，会比较困惑。主机发送了八个字节以后，需要放弃IIC控制权，将控制权交给从机，需要从机响应应答位。波形中出现的这种毛刺属于正常现象，没必要去刻意消除，对数据传输没有影响。3.这时候从机响应了第九个时钟，开始获取SDA控制，将SDA拉低。主从控制权交换发生在SCL的下降沿，这也符合上面抓取到的毛刺现象。以上只是一瞬间，表现为SDA会出现毛刺，且是周期性的。

在用这款芯片做浮点数计算时，却经常出现一些匪夷所思的现象，例如非负的两个浮点数相除得到了负数，两个非负浮点数相减得到一个更大的非负数。，与其中遇到的问题类似，并且都是M4的芯片，发现计算浮点数过程中, 若触发中断, 浮点数如果未能正常入栈, 导致中断结束后从栈中取出来的浮点数出现乱码, 从而导致偶发性计算错误。在程序中，复制一份相同的浮点数变量，进行同样的浮点数运算，但是复制的那个变量每次进行浮点数运算时进行关中断保护。而这款MCU是支持浮点数运算的，软件中也正常开启了浮点数运算功能（FPU）。

查阅芯片手册将控制背光的引脚为PWM01，将背光点亮控制在MCU读取外部FLASH结束即可，稳妥一点是让MCU读取FLASH结束后返回一个信号用于点亮背光，这里简单一点，直接延时50ms再点亮背光。，得知MCU点亮背光过早，导致MCU初始化读取FLASH的垃圾数据的过程也被呈现出来了，最终变成看到的花屏现象。最近在用乐升半导体的LT268A TFT串口屏做项目，屏幕出现一上电闪现雪花，然后显示才正常的现象。