62、中红外光谱测量的纵坐标刻度标准

中红外光谱测量的纵坐标刻度标准

1. 中红外标准的需求与应用

在20世纪70年代中期之前，绝大多数中红外（MIR）分光光度计用于振动光谱学，主要应用于化学工业分析、材料开发（特别是聚合物领域）、化学研发、制药、医学和公共卫生实验室等。这一时期，对用于测试或校准仪器的物理分光光度标准没有显著需求，分析工作主要是定性而非定量的，因此只需校准波数的横坐标刻度。

对于少数定量工作，纵坐标刻度依赖于可追溯到化学衍生的标准气体、液体或固体的相对测量技术，包括与纯KBr压制的粉末。这些材料必须具有已知的成分和纯度，并通过商定的方法制备。这种方法的优点是不仅测试了分光光度计，还测试了包括样品制备、计量、比色皿或气室或压片系统在内的完整分析系统，但无法提供客观手段来测试分光光度计本身的性能或准确性。

20世纪70年代末至80年代初，MIR和远红外技术的应用大幅扩展，涵盖国防领域的监视、测距、目标捕获和跟踪系统以及目标指定系统，安全系统的入侵者感应和监视，工业、运输和家用设备的短程传感和控制，空间、大气、环境和民用航空系统的远程传感，以及加工工业中的可控低强度加热等。此外，还出现了与节能和建模相关的新应用领域，如玻璃系统（特别是使用低发射率涂层的玻璃）、建筑物和工业加工厂。所有这些应用都需要进行光谱MIR测量，以获得具有已知不确定度的纵坐标值，包括光谱规则透射率、光谱规则反射率（在不同角度和偏振状态下）和光谱半球反射率。

20世纪80年代末至90年代，MIR分光光度计的使用方式发生了两大变化，对标准的需求产生了深远影响。一方面，随着测量需求的不断增加，特别是分析测定，加上成本削减的重组时代，许多MIR分光光度计的操作人员是低薪员工，仅接受了执行常规工作所需的最低限度培训。因此，出