基于二进制算术运算的片上网络片上系统测试数据压缩与基于粒子群优化的片上网络内存核心内建自测试设计
在当今的芯片设计领域,测试数据压缩和内存核心的高效测试是至关重要的问题。本文将介绍两种相关的技术,一种是基于二进制算术运算的片上网络(NoC)片上系统(SoC)测试数据压缩方法,另一种是基于粒子群优化(PSO)的片上网络内存核心内建自测试(BIST)设计。
基于二进制算术运算的测试数据压缩
在测试数据压缩方面,提出了一种简单的测试数据压缩和解压缩方法,旨在减少所需的自动测试设备(ATE)通道。该压缩方案高度依赖于长串的无关位(don’t cares)。
实验设置
- 实验环境 :压缩算法用C语言实现,运行在具有512MB RAM的Intel Core 2 Duo处理器的Linux操作系统上。
- 测试序列 :使用的测试序列无关位百分比很高。
- 实验参数 :考虑的n值(单位大小)为8位、16位、24位和64位。
实验结果
| Circuits | s5378 | s9234 | s15850 | s13207 | s38417 | s38584 |
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