Tessent在插Memory的mbist的时候可以设置给mem周围插mem bypass的scan chain

本文详细解释了MBIST在scan_mode下对内存数据输入(memdata_in)和输出(memdata_out)的membypass功能,特别提到了observer_reg的默认行为以及如何在DFTspec中添加扫描链选项以生成scanbypass的RTL电路。

mbist 的在scan_mode下的mem bypass包括 mem data_in的mem bypass(scan_in_reg)和mem data_out的mem bypass(observer_reg),其中observ_reg是mbist生成的时候默认就会加的,而mem data_in的scan chain是需要在mbist的DFT spec中加入option:

这样就会在interface的mbist 模块中生成scan bypass的RTL电路:

而mem的scan observe reg则是会在mbist生成的时候默认就产生:

给定引用中未提及Tessent Scan在不同类型芯片测试中的效果差异相关内容。不过,从Tessent Scan工具本身的特性可以进行一定推测。 Tessent Scan工具具有识别时序元素、转换为scan cells、链接成scan chains等功能,还具备可扫描性检查、设计规则检查等能力 [^3]。在不同类型芯片测试中,由于芯片的复杂度、架构、功能等方面存在差异,Tessent Scan的效果可能会有所不同。 对于简单架构的芯片,Tessent Scan可能能够快速且高效地完成扫描链的创建和测试逻辑的入,可扫描性检查和设计规则检查也能较为顺利地进行,从而有效提高测试覆盖率和故障检测率 [^3]。 而对于复杂架构的芯片,例如包含大量不同类型的时序元素、多个时钟域、复杂的逻辑功能等,Tessent Scan在识别和处理这些元素时可能会面临更多挑战。可能需要更复杂的配置和优化,以确保扫描链的合理创建和测试逻辑的有效入。在这种情况下,虽然Tessent Scan依然能够提供一定的测试支持,但可能需要更多的人工干预和调试,测试效果的提升可能相对有限。 此外,不同类型芯片对测试的重点和要求也不同。例如,对于一些对功耗敏感的芯片,Tessent Scan入测试逻辑时需要考虑对功耗的影响;对于一些对性能要求极高的芯片,可能需要在保证测试覆盖率的前提下,尽量减少测试对芯片性能的影响。 ```python # 这里只是简单示例代码,实际应用中需要根据具体情况编写 # 假设我们有一个函数来模拟Tessent Scan在不同芯片上的效果 def tessent_scan_effect(chip_type): if chip_type == "simple": return "High efficiency and high test coverage" elif chip_type == "complex": return "Need more configuration and optimization, limited improvement" else: return "Unknown chip type" # 调用函数进行测试 print(tessent_scan_effect("simple")) ```
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