【芯片验证】通关寄存器与ral_model —— backdoor后门访问实操测试

本文介绍了在芯片验证中如何进行寄存器后门访问的测试,详细阐述了如何配置和使用backdoor access,通过具体例子展示了设置后门路径并修改寄存器值的过程,验证了后门改配的成功。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

前言

在之前工作的基础上,补充关于关于寄存器后门访问的测试,以及如何在流程上进行后门路径生成方法(放在下一篇吧)。这些内容参考了以下的文章:

[UVM源代码研究] 聊聊寄存器模型的后门访问 - 知乎

001_uvm_ralgen_ug(Generating a RAL Model) - 简书

[UVM]UVM Register Model之Backdoor Access模型构建_uvm reg model backdoor-优快云博客

以及

uvm_ralgen_ug.pdfIP-XACT Standard Structure.pdf两份官方资料。进行测试的环境为:

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