卡尺工具：实现halcon中的fit_line_contour_xld

        上一篇文章中，我们实现了卡尺的边缘定位，卡尺会根据灰度值变化提取准确的位置。通常卡尺中的边缘点有多个，而实际应用中只需要一个。对应于halcon中measure_pos的Transition、Select参数，我添加了first、first+、first-、last、last+、last-、best这些选项用于选择边缘点（其中first表示第一个，last表示最后一个，+表示从黑到白，-表示从白到黑）。

        有了上面的准备之后，我们可以创建多个卡尺，选择自己想要的边缘点，进而找到圆或者直线。下面主要讲如何找到直线：

        第一步，创建多个卡尺，指定起始点、卡尺长宽、卡尺个数。

        第二步，提取每个卡尺的边缘点，构成点集。

        第三步，对点集进行直线拟合。

        这里重点讲一下直线拟合，常用的方法比较多，例如霍夫变换、最小二乘法、ransac、加权最小二乘法等。halcon中的fit_line_contour_xld拟合效果是比较好的，可以有效剔除异常点的干扰，从参数Algorithm可以看出它使用的是加权最小二乘法，huber、tukey、drop、gauss表示不同的权重函数，权重函数的输入是一个距离（即点到直线的距离），距离越大权重越小，距离越小权重越大。我也使用了此方法同时配合ransac，增加了抽样点个数、迭代次数、内点距离等控制参数，保证均方误差最小或者内点个数最多，下面的图是拟合效果图。