labview温度报警系统

STM32每个芯片内部集成的温度传感器特性参数不完全相同，用户购买的My_ARM学习板可能与本节实验结果不一致。因此，建议利用该传感器测量芯片温度的相对变化，而非当前环境中的绝对温度。
如果用户坚持使用STM32内部温度传感器测量绝对温度，可以按照下面的步骤先校准一下环境温度系数。
1)运行本节实验程序，获取ADC1通道16上的温度传感器数据，记为adc_16。
2)将一支数字温度计放置在My_ARM学习板上的STM32芯片表面，读取当前温度值，记为Temp_Thermometer(TT)。
3)利用万用表测量开发板上Vref+实际参考电压值，记为Vref。
4)利用以下公式进行等效系数换算，求取STM32芯片温度传感器的V25：
其中，Avg_Slope取标准值0.0043V/℃。
1.软件架构设计
考虑到STM32芯片内部温度变化非常缓慢，无须进行快速采集，因此，选择普通while循环即可。另外，由于ADC采集回来的数据为12位无符号整数，需要根据ADC电压转换公式，将其转换为实际的模拟电压值，然后再根据ADC芯片温度转换公式，将模拟电压值进行转换，得到最终的真实温度值。
程序框架已经编写完成，接下来就是如何在LabVIEW中访问STM32上的ADC资源了。
由于本实验采集的是芯片内部通道16上面的温度传感器输出的电压值，只有ADC1能够采集，外部电路无法接入，因此，采集部分没有原理图。但是在驱动蜂鸣器的时候，需要外部电路支持，其中，蜂鸣器对应的引脚为PG11，输出方式为推挽输出。
下面重点介绍基于VI函数和EIO节点这两种方式下的程序实现过程。
3.利用ADCmx VI函数来采集芯片温度
ADCmx函数的打开、读取、关闭都是多态VI，加上芯片内部温度只有ADC1能够采集，因此，这3类多态ADCmx VII都需要选择成ADC1函数。同时，为了提高转换精度，需要将ADC转换周期设置为21μs，蜂鸣器设置为推挽输出。
4.利用EIO节点来采集芯片温度
基于EIO节点的ADC驱动实现和使用方法，下面采用ADC的EIO节点方式来读取STM32芯片内部的温度值。
首先，在虚拟文件夹“ADC温度采集实验”上右击，新建一个ADC1的EIO节点，单击“确定”按钮，将STM32_Temperature和虚拟文件夹“-蜂鸣器实验”中的BEEP两个EIO节点分别拖曳到图。