60、模拟测试总线标准与系统测试方法解析

模拟测试总线标准与系统测试方法解析

1. 模拟测试总线（ATB）相关内容

1.1 数字与模拟核心测试

数字核心测试依据ABM控制位（表17.3中的P16 - P19），其过程与标准1149.1完全相同。而模拟核心测试使用INTEST指令时，任何给定时间只能刺激一个模拟引脚并观察一个引脚。PROBE和INTEST的区别在于，PROBE允许内部数字电路与模拟核心交互，而INTEST则将数字核心断开，并用边界寄存器中的设置模式替代。

1.2 SAMPLE/PRELOAD指令

对于模拟引脚，所需的SAMPLE指令会将引脚电压数字化，并将其作为一位存储在边界寄存器中。若引脚电压满足特定条件则数字化为1，否则为0。

1.3 1149.4标准的其他特性

1.3.1 差分ATAP端口

1149.4标准允许使用差分I/O线。需添加第二个TBIC来创建差分ATAP端口和差分ABn总线。ABn总线是差分功能引脚的正端，ABnN总线是负端，这使得能够进行差分测试测量，在嘈杂环境的系统测试中可去除共模噪声。不过，使用EXTEST指令无法测试差分总线上的共模噪声抑制，因为它会使ABM断开引脚与差分驱动器/接收器的连接，所以建议使用INTEST指令进行U1和U2之间的噪声抑制测试。

差分互连虽能大幅提高共模噪声抑制能力，但也存在问题。单线路或电阻短路或开路仍会使差分互连工作，但高速时信号建立时间会变差，噪声增加且存在模式敏感性。两个不同差分信号短路时问题更严重，这些错误需通过参数测量或检查接收器的共模点来检测。

1.3.2 分区内部测试总线

使用单个A