30、内存测试中的故障建模与分析

内存测试中的故障建模与分析

1. 常见耦合故障类型

在内存测试中，存在多种耦合故障类型，不同类型的故障具有不同的特征和检测条件。

故障类型	定义	检测条件
幂等耦合故障（CFid）	单元 $j$ 的上升或下降转换将单元 $i$ 设置为 0 或 1，分别表示为 $CF_{id}^{0}$ 或 $CF_{id}^{1}$	对于所有耦合单元，在一系列可能的 CFid 发生后（通过写入耦合单元），每个耦合单元应被读取，以确保敏感的 CFid 不会相互掩盖（耦合单元在与正常机器状态相反的状态下被读取）
动态耦合故障（CFdyn）	不同字中的单元之间发生的故障，对一个单元的读或写操作会迫使第二个单元的内容变为 0 或 1	用 $CF_{dyn}^{read}$ 或 $CF_{dyn}^{write}$ 表示，有四种 CFdyn 故障
桥接故障（BF）	两个或多个单元或线路之间的短路，是双向故障	AND 桥接故障（ABF）逻辑桥值是短路单元/线路的与，有四种可能；OR 桥接故障（OBF）逻辑桥值是短路单元/线路的或，有四种可能
状态耦合故障（SCF）