方形和十字结器件的弹道输运特性研究
1. 弹道区域的结特性
当材料的平均自由程小于方形或十字结的特征尺寸时,即使是具有圆形费米面的材料,器件也会进入弹道区域。在这个区域中,霍尔电阻和弯曲电阻的行为与欧姆区域有显著不同。20世纪80年代,人们首次在低温半导体二维电子气中实现了这种弹道区域的器件,此后,相关研究扩展到了多种材料和温度范围。
1.1 弯曲电压
- 早期研究 :一些早期研究进行了弯曲电压测量,测量采用了特定的接触配置,如R12,43和R23,14。最初在介观区域进行的弯曲电压测量是由Timp等人在具有多个接触的GaAs - AlGaAs异质结构中完成的,后来其他结构和超纯材料(如InSb、HgTe和石墨烯)也进行了类似研究。
- 实验现象 :在方形和十字结以及所有研究材料中,弯曲电压在定性上相似,但与欧姆行为有明显偏差。以在1.5K下测量的GaAs - AlGaAs方形结为例,在欧姆区域,零场电压应为正且磁阻可忽略不计,但在弹道区域,零场电压为负,在中等磁场下会出现一个与尺寸相关的峰值(通常称为“过冲”),然后在高磁场下趋近于零。随着器件尺寸减小,负峰值的幅度增大,峰值出现在更高的磁场下。
- 物理解释 :这种现象最终被确定为半经典的。由于器件中散射较少,在零场时,从负电流接触发射的电子主要沿方形对角线到达正电压端子,导致测量电压为负。这些轨迹被称为准直轨迹,可分为直接(无散射)和间接(因进入其他接触困难)两种。与之相反的是混乱轨迹,当准直作用较弱时,混乱轨迹占主导,涉及多次边界散射,电子在混乱轨迹上最终进