60、基于OLELC和NBET的低功耗测试数据压缩方案

基于OLELC和NBET的低功耗测试数据压缩方案

1. 引言

片上系统（SoC）芯片将众多模块和IP集成在单芯片上，虽然降低了制造成本，但由于测试生成的复杂性增加和测试数据量庞大，导致测试成本上升。同时，扫描测试期间大量的开关活动会超出正常操作水平，引发功率问题。因此，需要控制测试期间的能量、峰值功率和平均功率，以避免芯片故障和降低被测电路（CUT）的可靠性。

为解决海量测试数据问题，人们提出并发展了多种压缩技术和架构，主要分为以下两类：
- 使用码字表示数据块 ：如Golomb码、选择性霍夫曼码、VIHC码和FDR码等。这类方法的最大压缩率可通过测试数据的熵来预测。
- 利用测试向量的位相关性进行压缩 ：通过最小化连续测试模式之间的位翻转来实现测试压缩。例如OPMISR方法，利用ATE的重复指令和游程长度编码来提高测试压缩率。

此外，大型设计的测试模式中指定位的百分比通常很低，利用这一特点可实现高压缩率。例如混合测试方法会为被测芯片生成随机和确定性模式，并使用片上LFSR生成随机模式；广播（或伊利诺伊）方法使用一个引脚为多个扫描链提供数据；还有一些方法通过组合网络压缩测试立方体，以隐藏ATE看到的大型内部扫描链；以及RIN、SoC - BIST和EDT等方法，利用片上电路将压缩数据扩展为测试模式。Tang等人还提出了一种使用开关配置传递测试模式的方案，并提供了确定最佳开关配置的方法。

2. OCNBET算法

2.1 OLEL编码

OLEL编码是一种可变长度到可变长度的编码，它将可变长度的0游程映射到可变长度的码字。编