DFT实训教程笔记1（bibili版本）- introduction to DFT& DFT Architecture

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作者：ciscomonkey

introduction to DFT

Design for test的目的：
实现特定的辅助性设计，额外增加一定的硬件开销-----Design
利用实现的辅助性设计，产生搞笑经济的结构性测试向量在ATE上进行芯片测试—For test

什么是DFT技术？
DFT可以认为是检查物理设计输出生产制造出来的芯片的功能一致性。
DFT技术是产生辅助性设计，并利用这些辅助性设计对根据physical defects建立的fault model求解，产生处结构性的测试向量。这些向量应用于生产制造出来的芯片以检测其功能正确性。

Function test&Structure Test
功能测试是指从设计的功能出发，但并不关心具体以设计内容的测试方法
1、Low converage
2、较长的功能开发时间和应用时间
随着功能越来越多的集中在一个芯片上，没办法把所有的功能进行测试，并且没法给出对功能的converage

结构性测试则是依赖于设计实现结构的测试方法，更具备通用性。不同芯片可以用相同的DFT方法进行测试。

三家主要的EDA公司：
synopsys Mentor Cadence

synopsys的工具有：
DC
Prime time
ICC: PR tool
Tetramax: ATPG tool
VCS/Verdi
Design Aware IP

Mentor:
Tessent（不能进行逻辑综合）
DFTadvisor（scan insertion）
Fastscan(ATPG tool without test compression)
Testkompress (A