DFT实训教程笔记3（bibili版本）-SOC Scan Implementtation & Scan Practice Session II

本博文是博主记录DFT实训教程的笔记版本，此笔记并没有对所有的知识进行记录，仅仅以自身的认知水平，来记录了一些部分笔记并加上了自己的理解。

回顾作业

思考如下的问题：
在设计里面还有别的cell，当然主流仍然是MUX-D。
A、双端口扫描单元：为了把扫描时钟与正常时钟、扫描数据与正常触发器数据输入数据区分开，扫描触发器采用双（数据）双时钟触发器，有两个数据端口D和SI、两个时钟clk1和clk2，clk1和clk2时钟信号到来后SI端口的信号被捕获。
B、电平敏感扫描设计（Level-sensitive scan design, LSSD）:采用双锁存设计，对瞬态特性，如上升沿、下降沿都不铭感，电路结构中包括两个相互链接的电平敏感锁存器、信号有效数据输入D、系统时钟CK、串行扫描输入SI和两个互不重复的时钟clk1和clk2、串行扫描输出SO。测试中L1(主)和L2（从)结构，正常function状态时只有L2起作用，作用如同触发器。

对于问题2：
如果当你进行capture时候，就可能会改变reg/Q上面的值，相当于PPI发生了变化，与PI共同作用，会导致PO的值改变。所以，此时PO上面的值不是PI+PPI的值，而是PI+caputure后PPI上的值的作用结果。一般而言我们是希望前面一种，如果采用后面一种方式，工具会多了一个新的计算，相当于用新的PPI+PI运算结果。
如下图所示，对于measure PO, 如果发生在capture之后，由于capture这个动作会冲掉reg上面的值，导致产生新的PPI。

scan.tcl的脚本

#configure library
set search_path "$search_path ./netlist ./lib"
set target_library {
   
   ./lib/typical.db}
set link_library {
   
   * .