半导体行业的AI知识管理与故障检测创新方案
在半导体行业,高效的知识管理和精准的故障检测对于提高生产效率、保证产品质量和降低成本至关重要。本文将介绍两个关键方面的创新方案,一是基于AI的知识管理系统,用于风险评估和根本原因分析;二是高效的深度学习方法,用于半导体行业的故障检测。
基于AI的知识管理系统
在半导体行业的风险评估和根本原因分析中,需要处理各种包含因果关系的文档。然而,这些文档由于最初是供人类专家解读,且由不同背景的人创建,存在信息提取困难和不一致性等问题。
知识表示
- 数据库选择 :No - SQL数据库(包括图数据库)在处理分布式数据方面表现出色,结合图嵌入算法在节点分类和链接预测等下游任务中的良好效果,选择图数据库作为知识表示的框架。
- 因果关系 :因果关系是系统关注的主要关系类型,但它具有上下文依赖性。在半导体行业,不同产品和工艺的上下文信息差异很大,同一事件在不同上下文中可能有不同含义,因果关系也可能随之改变或消失。因此,研究致力于在半导体制造中进行因果知识表示,研究结合上下文信息对推理和推理算法的有效性。
精炼算法
- 稀疏图处理 :实际的知识图通常比基准知识库更稀疏,文本信息可用于弥补稀疏图结构的不足。语言模型(如BERT)是生成文本信息低维表示的首选,能提高自然语言处理任务的性能。
- BERT - ConvE方法 :构建了基于BERT的BERT - ConvE
超级会员免费看
订阅专栏 解锁全文
2029

被折叠的 条评论
为什么被折叠?



