近期测试一个电容测高的项目,对电容两端测高。
每次需要对电容两端测高,求得高度差,进行管控
遇到一下问题:
1、原图为32位的深度图,通过halcon打开,因为高度信息太小,图像一片黑
2、将深度图转为灰度图后,如何能自动识别电容,并在两端创建ROI区域
先解决第一个问题:
思路本质在于将深度图信息数据进行拉伸,然后将拉伸信息后的图像转为byte
第一种:基于线性变换将高度信息进行变换,高度信息低时拉高,过高时降低
然后将其格式转为byte,最后将对比度拉伸。
scale_image (Image, ImageScaled, 20, -100)
convert_image_type (ImageScaled, ImageConverted, 'byte')
scale_image_max (ImageConverted, ImageScaleMax)
第二种思路:将高度信息内(lowValue, highValue)拉伸成0-255,对应第一种思路第一个和第三个算子,然后将其转为byte。
scale_image_range (Image, ImageScaled, lowValue, highValue)
convert_image_type (ImageScaled, ImageConverted, 'byte')
上述两种效果实测,效果提升明显。
再解决第二个问题:
1)设置阈值分割出电容、驱动器和背景,再临近分割
threshold (ImageReduced, Region, lowThreshold, highThreshold)
connection (Region, ConnectedRegions)
2)电容和驱动器高度类似,转为灰度后,也相近,剔除干扰项
select_shape (ConnectedRegions, SelectedRe

本文详细介绍了在电容测高项目中遇到的图像处理问题及解决方案。针对32位深度图显示一片黑的问题,提出了两种线性变换和范围拉伸的方法,显著提升了图像对比度。接着,通过阈值分割、临近连接和形状选择策略,成功识别并区分了电容和驱动器,定位到电容两端生成ROI区域,实现了精确的测高和高度差管控。
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