STM32F407 ADC——电压采集和温度测量

徽川

已于 2024-02-02 10:12:28 修改

阅读量5.7k

点赞数 48

CC 4.0 BY-SA版权

分类专栏： STM32CubeMx系列笔记自用文章标签： stm32 嵌入式硬件单片机

于 2024-01-25 11:27:50 首次发布

本文链接：https://blog.youkuaiyun.com/C_glance/article/details/135826122

本文详细解释了STM32F4的ADC电压采集过程，涉及参数设置（如分辨率、扫描模式、转换顺序等）、软件触发、温度测量计算方法，并介绍了如何在Keil中编写实现代码。同时讨论了ADC的工作原理，包括数据处理和中断机制。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

ADC——电压采集
ADC温度测量
- 设计过程
- 实现代码

ADC——电压采集

初始化参数解析

首先在CubeMx当中新建工程，设置一些初始化的参数，具体如下图所示。

在这里插入图片描述
下面具体解释一下。
ADC_Resolution：配置ADC的分辨率，可选的分辨率有12位、10位、8位和6位。分辨率越高，AD转换数据精度越高，转换时间也越长；分辨率越低，AD转换数据精度越低，转换时间也越短。
ScanConvMode：可选参数为ENABLE和DISABLE，配置是否使用扫描。如果是单通道AD转换使用DISABLE，如果是多通道AD转换使用ENABLE。
ADC_ContinuousConvMode：可选参数为ENABLE和DISABLE，配置是启动自动连续转换还是单次转换。如果设置为DISABLE，则是单次转换。两者的区别在于连续转换直到所有的数据转换完成后才停止转换，而单次转换则只转换一次数据就停止，要再次触发转换才可以。所以如果需要一次性采集1024个数据或者更多，则采用连续转换。
ADC_ExternalTrigConvEdge：外部触发极性选择，如果使用外部触发，可以选择触发的极性，可选有禁止触发检测、上升沿触发检测、下降沿触发检测以及上升沿和下降沿均可触发检测。
ADC_ExternalTrigConv：外部触发选择。可根据项目需求配置触发来源。实际上，我们一般使用软件自动触发。软件触发当设置开始转换时ADC会立即启动转换，硬件触发则需要等待指定的外部事件发生时ADC才会启动转换。
ADC_DataAlign：转换结果数据对齐模式，可选右对齐ADC_DataAlign_Right或者左对齐ADC_DataAlign_Left。一般我们选择右对齐模式。
ADC_NbrOfChannel：AD转换通道数目。
ADC_Mode：ADC工作模式选择，有独立模式、双重模式以及三重模式。
ADC_Prescaler：ADC时钟分频系数选择，ADC时钟是有PCLK2分频而来，分频系数决定ADC时钟频率，可选的分频系数为2、4、6和8。
ADC_DMAAccessMode：DMA模式设置，只有在双重或者三重模式才需要设置，可以设置三种模式，具体可参考参考手册说明。
ADC_TwoSamplingDelay：2个采样阶段之前的延迟，仅适用于双重或三重交错模式。

一般过程

在CubeMx当中设置完初始参数之后，在keil当中编写代码。

 while (1)
  {
   
   
	HAL_ADC_Start(&hadc1);  //开启ADC转换
	HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,50);  //等待ADC转换结束
	if(HAL_IS_BIT_SET(HAL_ADC_GetState(&hadc1), HAL_ADC_STATE_REG_EOC)) //获取转换状态
		{
   
   
			Voltage = ((float