45、集成电路延迟测试与 IDDQ 测试全解析

集成电路延迟测试与 IDDQ 测试全解析

1. 可变时钟非扫描时序测试

1.1 测试原理

在非扫描时序电路中进行延迟故障测试时，需要多个向量。具体步骤如下：
1. 向量对（V1，V2）应满足特定条件，V2 需通过组合函数由 V1 推导得出。
2. V1 由一组从初始状态开始的向量生成，这组向量被称为证明序列。
3. 若路径终点为触发器，则需将状态传播到输出端口（PO），此部分测试称为传播序列。

1.2 慢时钟或可变时钟延迟测试

为确保 V2 正确生成且不受 V1 传播延迟的影响，使用慢时钟让 V1 有足够时间在电路中传播。整个测试序列中，仅 V2 使用额定时钟，这种方法被称为慢时钟或可变时钟延迟测试。

1.3 测试问题与解决方案

尽管慢时钟可防止电路延迟干扰目标故障检测，但在使用额定时钟的时间帧内，其他路径延迟仍可能影响触发器状态。Chakraborty 等人提出了几种替代方案。

1.4 测试定义

• 组合鲁棒测试 ：能在电路存在任意延迟的情况下，保证检测组合电路目标延迟故障的测试，由向量对（V1，V2）组成，应用测试时需确保 V1 变化稳定后再应用 V2。
• 时序鲁棒测试 ：能在电路存在任意延迟的情况下，保证检测时序电路目标延迟故障的测试。对于可变时钟测试，考虑三种故障模型：
  • 故障模型 A ：假设除路径终点外的所有触发器不受任何延迟故障影响，若假设不成立，传播