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RSS订阅原创 算法导论 4.6
VLSI 芯片测试:Diogenes 教授有n个被认为是完全相同的VLSI芯片,原则上它们是可以互相测试的.教授的测试装置一次可测试二片,当该装置中放有两片芯片时,每一片就对另一片作测试并报告其好坏.一个好的芯片总能够正确的报告另一片的好坏,但一个坏的芯片的结果就是不可靠的.这样,每次的测试的四种可能结果如下: a)证明若少于 n/2 的芯片是坏的,在这种成对测试方式下,使用任何策略都不能确定哪个芯片是好的.b)假设有多于 n/2 的芯片是好的,考虑从 n 片中找出一片好芯片的问题.证明 n/2 对测试就足
2010-12-04 08:39:00
1347
原创 微软面试100题链接
http://topic.youkuaiyun.com/u/20101023/20/5652ccd7-d510-4c10-9671-307a56006e6d.html
2010-12-04 06:31:00
824
原创 [转]小技巧
<br />1、实现一个函数int sign(INT32 x)，对x>0返回1；x==0返回0；x<0返回-1。不允许用任何形式的判断，分支，跳转指令或语句。<br /> (1) return x*2/(|x|+1)。<br /> 缺点是有溢出的风险，x的值不能太大。或者将X转化成64位的值来临时存储处理。<br /> (2) return (x>0) - (x&0x80000000 == 0x800000000)。<br />
2010-12-04 06:26:00
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原创 算法导论2.4 合并排序求逆序数
2-4 逆序对 设A[1...n]是一个包含n个不同数的数组。如果在iA[j],则(i,j)就称为A中的一个逆序对。 (1)列出数组{2,3,8,6,1}的五个逆序。 (2)如果数组的元素取自{1，2...，n}，那么，怎样的数组含有最多的逆序对？ (3)插入排序的时间与输入数组中逆序对的数量之间有怎样的关系？ (4)给出一个算法，能用Θ（n㏒n)
2010-12-03 22:05:00
4522
Struts国际化源代码
2012-01-27
空空如也
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