电磁兼容EMC测试——静电放电抗扰度试验(ESD)

静电放电抗扰度试验(ESD)按照GB/T17626.2标准进行,模拟人体与电子设备间的静电交互,可能导致设备损坏或误动作。试验分为直接和间接放电,接触放电为主选方式。实验内容包括确定设备状态、施加部位、放电形式和等级。结果根据设备功能丧失程度分类,通常要求设备能承受3级静电等级(接触6kV,空气8kV)。

电磁兼容EMC测试——静电放电抗扰度试验(ESD)

静电放电抗扰度测试概述

静电放电抗扰度试验(ESD)的国家标准为GB/T17626.2(等同于国际标准IEC61000-4-2) 。
静电放电(ESD)是一种自然现象,经验表明,人在合成纤维的地毯上行走时,通过鞋子与地毯的摩擦,只要行走几步,人体上积累的电荷就可以达到10-6库仑以上(这取决于鞋子与地毯之间的电阻),在这样一个"系统"里(人/地毯/大地)的平均电容约为几十至上百pF,可能产生的电压要达到15kV。研究不同的人体产生的静电放电,会有许多不同的电流脉冲,电流波形的上升时间在100ps至30ns之间。电子工程师们发现,静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候,有可能导致数层半导体材料的击穿,产生不可挽回的损坏。静电放电以及紧跟其后的电磁场变化,可能危害电子设备的正常工作。

静电放电抗扰度测试目的

GB/T17626.2国内静电放电标准描述的是在低湿度环境下,通过摩擦使人体带电,带了电的人体,在与设备接触过程中就可能对设备放电。

静电放电抗扰度试验模拟了两种情况:

  1. 设备操作人员直接触摸设备时对设备的放电,和放电对设备工作的影响;(直接放电)
  2. 设备操作人员在触摸邻近设备时,和这台测试设备的影响。(间接放电)

静电放电可能造成的后果是:

  1. 通过直接放电能量交换,引起设备中半导体器件的损坏,从而造成设备的永久性失效。
  2. 由放电(可能是直接放电,也可能是间接放电)而引起的近场电磁场变化,造成设备的误动作。

放电方式

  • 直接放电:接触放电为首选形式;只有在不能用接触放电的地方(如表面涂有绝缘层,计算机键盘缝隙等情况)才改用气隙放电。

  • 间接放电:水平耦合(HCP),垂直耦合(VCP)

标准之所以用接触放电为首选的放

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