H 桥电路的功耗主要来源于 MOS 管的导通损耗、开关损耗,以及驱动电路损耗、寄生参数引入的额外损耗等。降低功耗需从器件选型、电路设计、控制策略等多方面优化,具体方法如下:
一、降低 MOS 管的导通损耗
导通损耗是 MOS 管导通时因导通电阻(RDS (on))产生的功耗(公式:
),是大电流场景下的主要损耗来源。
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选择低导通电阻的 MOS 管
- 优先选用 RDS (on) 更小的型号,尤其是在大电流工况下(如电机驱动),低 RDS (on) 可显著减少功耗。例如,同样 50A 电流下,RDS (on)=10mΩ 的 MOS 管导通损耗为 25W,而 RDS (on)=5mΩ 的仅为 12.5W。
- 注意:RDS (on) 会随温度升高而增大(正温度系数),需结合实际工作温度评估有效阻值。
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合理并联 MOS 管
- 当单管电流不足时,可并联多颗参数匹配的 MOS 管(需保证特性一致,如 RDS (on)、阈值电压相近),分摊电流,降低单管功耗。
- 并联时建议每颗管子串联小电阻(均流电阻,如 0.1Ω),平衡各管电流,避免电流不均导致个别管子过载。
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2009

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