DFT（可测试性设计）

最新推荐文章于 2025-03-12 16:54:44 发布
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文章标签： 测试覆盖率 功能测试 硬件工程
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DFT=Design for Testing（可测试性设计），在设计阶段添加测试部门的接入，可以便与产品的生产测试，提高产品生产测试的测试覆盖率等。

qq_35092353
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【数字IC基础】DFT（Design For Test）可测性设计
努力，加油每一天鸭~
12-02 2660
【数字IC基础】DFT（Design For Test）可测性设计
可测试性设计
Frank_Yee的博客
03-29 1116
1.定义 组织 定义 美国国防部 系统能及时准确确定设备状态（可工作，不可工作，性能下降）和隔离故障而做的设计： IEEE 系统规格或功能制定对应测试标准，并完成相关测试的难易程度； ISO 维护和修改软件的难易程度 业界广泛采用...
测试可测性设计准则
最新发布
youngerwang的博客
03-12 674
软件可测试性是保障软件质量的关键特性。它涵盖可观察性，即软件运行能输出关键信息助于了解内部状态；可控制性，测试人员可灵活操控输入与功能；可拆解性，软件模块划分合理、依赖清晰便于独立测试；可再现性，相同条件下软件行为一致、结果可重复。遵循这些原则，能提升测试效率与准确性，及时发现并修复问题，确保软件稳定可靠运行。
DFT可测性设计简介
weixin_46151516的博客
03-09 935
DFT
为可测性而设计
软件质量优化
08-03 3855
 为可测性而设计原文：Design for Testability - Bret Pettichord 摘要本文提供若干实用的建议，帮助项目组开发出可测性更强的软件产品。本文对可测性（Testability）的定义为可见性和可控制性。可见性是我们能观察被测软件的状态、输出、资源利用和其它影响的程度；可控制性是我们能向被测软件输入或把它设置到某个特定状态的程度。 可见
DFT可测性设计
yan1111112的博客
05-30 2260
DFT 常用技术： （1）扫描链（Scan Chain），主要针对时序电路，测试寄存器和组合逻辑； （2）BIST，内建自测试逻辑（Bulit-in Self Test），主要针对 ROM 和 RAM 等存储器； （3）边界扫描（Bounary Scan），主要针对输入输出引脚，比如使用 JTAG 技术； 功能： 1、覆盖电路时序问题 扫描链（Scan Chain），主要针对时序电路，测试寄存器和组合逻辑； DC Scan是慢速测试，AcScanf全速测试，使用高于芯片的工作频率时钟，测试setuo和hol
可测性设计技术
沧海一升的博客
11-04 4438
可测性设计技术学习，包括JTAG、BIST
dft可测试性设计atpg
06-19
DFT（Design for Testability，可测试性设计）是电子设计自动化中的一项重要设计技术，旨在使电路的测试更加容易和有效。在DFT设计中，ATPG（Automatic Test Pattern Generation，自动测试模式生成）是一个重要的...
经硬件仿真验证的可测试性设计 (DFT)
07-21
最近的统计数据表明：制造完成后，测试芯片是否存在制造缺陷（与不存在设计缺陷相比）的成本已增至制造成本的 40%。...该方法称为可测试性设计 (DFT)本文为大家介绍一下硬件仿真验证的可测试性设计。
简述有效提高DFT设计测试覆盖率的方法
10-22
在集成电路（Integrated Circuit,简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括
提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法
03-23
现今流行的可测试性设计(DFT：DesignForTestability)应运而生，并为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色。 　在DFT设计中，测试覆盖率及其测试效率是最重要的指标。一方面，理想的设计目标当然希望测试能够遍及...
数字系统可测性设计
04-18
数字系统可测性设计，可测性设计，开发，时延测试，敏化测试
DFT设计流程
03-20
synopsys DC综合工具的DFT设计流程，内含多个文档，是很好的参考使用资料，
第五章集成电路测试与可测试性设计
02-20
本章主要讲述了集成电路测试与可测试性设计的基本概念、集成电路测试概述、故障模型、测试生成、故障模拟、可测试性设计（Design for Test，DFT）等内容。 1. 测试与可测试性设计的基本概念 测试是对被测电路施加...
DFT设计 与 芯片测试 ；Scan Chain； DC里的DFT的扫描链设计； 存在异步复位触发器时的扫描链设计；Scan-In Scan-Out
Jie_MSD的博客
07-10 1万+
DFT（Design for Testability ）该设计有助于提高可测试性，从而促进制造过程中的测试和调试，提高了芯片的可测试性和可靠性。没有一个制造过程是完美的，所以生成出的所有的芯片不是都能正常工作，因此，进行测试（例如DFT）是非常重要的，以确保只有功能正常的芯片被送出去用于后续的封装和应用。对于任何芯片设计，都会存在一定的失效率（Yield）。
ASIC--DFT可测性设计工程师
热门推荐
TroubleMaker
03-09 2万+
DFT是什么？ DFT是design for test（可测性设计）的缩写，就是在芯片设计过程中，加入可测性逻辑。有的公司把该职位归到前端设计，有的归到中端实现。 DFT职位大多分布于规模较大的数字IC设计公司里，因为大公司对芯片品质要求高，而且规模越大，芯片越贵，DFT就越复杂越重要。DFT主要是通过在芯片中加入可测性逻辑，等芯片制造出来，在ATE（AutomaticTestEquipmen...
集成电路可测性设计DFT的详细分类
孜孜不倦
05-23 9393
前言 可测试性设计方法之一：扫描设计方法 可测试性设计方法之二：标准IEEE测试访问方法 可测试性设计方法之三：逻辑内建自测试 可测试性设计方法之四：通过MBIST测试寄存器 总结 ...
可测性是设计方案的必选项
Tall Deem的专栏
03-06 890
系统可测性是共同努力的结果 描述“没法测试的系统，不是好的设计”
DFT设计与验证介绍——第1节：DFT简介
m0_49471259的博客
06-29 1万+
介绍DFT设计原理和验证方法，重点介绍IP BIST及MBIST两种设计及验证。1、曲英杰，方卓红编著．超大规模集成电路设计=DESIGN OF VERY LARGE SCALE INTEGRATED CIRCUIT：人民邮电出版社，2015.022、罗萍编著．集成电路设计导论 第2版=Introduction of IC design：清华大学出版社，2016.013、「沧海一升」的原创文章“可测性设计技术”，原文链接：可测性设计技术_沧海一升的博客-优快云博客_可测试性设计4、「沧海一升」的原创文章“
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