2、光学折射测量方法的前沿技术解析

光学折射测量方法的前沿技术解析

在光学研究领域，折射测量方法对于研究各种透明介质中的物理现象至关重要。随着科技的不断发展，多种先进的折射测量技术应运而生，下面将为大家详细介绍几种具有代表性的方法。

背景导向纹影法（Background - Oriented Schlieren Method）

近年来，纹影法的发展有了新的方向，即采用非相干辐射照亮结构化屏幕。这种方法易于实现，可以使用结构化透明片或结构化反射屏，用非相干点光源（如白炽灯）照亮。其透射或反射系数可以是确定性或随机的坐标函数。

该方法的实验装置如图所示，由非相干光源均匀照亮半透明结构化透明片（屏幕），相机物镜将透明片的图像投射到CCD阵列上，待测相位物体置于屏幕和相机物镜之间。这是一种成像折射测量方案，满足透镜公式 (1/l_1 + 1/l_2 = 1/f)。

结构化透明片由在亮背景上以确定或随机方式排列的暗点或其他形状的图形，或在暗背景上的亮点或其他图形组成。记录透明片在有无相位物体时的两幅图像，通过特殊软件进行计算机比较，可判断相位物体的主要特性，得到沿光传播路径平均的折射率梯度大小的图像，在某些情况下还能解决逆问题。

特点	详情
屏幕制作	制造任意结构的透明片和屏幕并不困难，自然形成物如草、沙、雪、沥青等也可作为屏幕，还能制作大尺寸屏幕，适合研究长达百米的大型相位物体，这是经典方法无法做到的。
图像分辨率