23、基于 SSD 的软件可靠性新模型

基于 SSD 的软件可靠性新模型

1. 二次缺陷数量与参数 k 的关系

在软件系统（SS）中，二次缺陷的数量与参数 k 有着密切的关系，具体如下：
| k 值范围 | 二次缺陷情况 |
| — | — |
| k = 0 | 二次缺陷流缺失 |
| 0 < k < 1 | 插入到 SS 中的二次缺陷数量有最大值，且随着 k 值增加更严格地表达 |
| k > 1 | 二次缺陷数量随时间减少，对应真实 SS 中的过程，可作为 SSD 的确认 |
| k = 1 | 插入到 SS 中的缺陷数量稳定并趋于值 F0/2 |

当初始阶段，k 满足不同条件时，二次缺陷数量的变化趋势图如下：

graph LR
    classDef startend fill:#F5EBFF,stroke:#BE8FED,stroke-width:2px;
    classDef process fill:#E5F6FF,stroke:#73A6FF,stroke-width:2px;

    A([开始]):::startend --> B{k 值范围}:::process
    B -->|k = 0| C(二次缺陷流缺失):::process
    B -->|0 < k < 1| D(二次缺陷数量有最大值<br>随 k 增加严格表达):::process
    B -->|k > 1| E(二次缺陷数量随时间减少):::process
    B -->|k = 1| F(缺陷数量稳定趋于