JTAG.NET板级测试系统

最新推荐文章于 2024-10-07 15:48:33 发布

hahali888888

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文章标签：测试 action 编程语言 ibm 算法

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本文介绍了JTAG联合测试行动组提出的一种用于提高电路可测试性的边界扫描技术。该技术通过边界扫描单元增强了集成电路的可控性和可观察性，并概述了从JETAG到JTAG的发展历程，以及IEEE1149.1标准对这项技术普及的重要性。

JTAG.NET板级测试系统

缩略语：

JTAG Joint Test Action Group

BS Boundary Scan 边界扫描

BSDL Boundary Scan Description Language 边界扫描描述语言

BST Boundary Scan Test 边界扫描测试

OBP On_Board Programming 在板编程

ICP In_Circuit Programming 在线编程

ISP In-System Programming 系统编程

引言：

随着电路技术进入超大规模集成（VLSI）时代，VLSI电路的高度复杂性以及多层印制板、表面贴装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多芯片模块（MCM）技术在电路系统中的应用，都使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至于消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升，常规的测试方法正面临着日趋严重的困难。测试算法的研究和测试实践证明了一个基本的事实：要对一个不具有可测试性的电路进行测试实徒劳的，只要提供电路的可测试性，才能使电路的测试问题得到简化并最终解决。1985年，由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG（Joint European Test Action Group）提出了边界扫描技术，它通过存在于元器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC（边界扫描单元）对器件及外围电路进行测试，从而提高器件的可控性和可观察性。1986年由于其它地区的一些公司的加入，JETAG改名为JTAG。1988年JTAG提出了标准的边界扫描体系结构，名称叫Boundary-Scan Architecture Proposal，Version 2.0，最后目标是应用到芯片、印制板与完整系统上的一套完善的标准化技术。1990年IEEE正是承认了JTAG标准，经过补充和修改后，命名为IEEE1149.1-90。同年，又提出了BSDL（Boundary Scan Description Language，边界扫描描述语言），后来成为IEEE1149.1-93标准的一部分。IEEE1149.1标准大大推动了边界扫描技术的发展和广泛应用。