67、电子电路测试与设计相关研究综述

电子电路测试与设计相关研究综述

1. 引言

电子电路的测试与设计是电子工程领域的核心内容，关乎着电子设备的性能、可靠性和生产效率。众多学者和研究人员在这一领域进行了广泛而深入的研究，涵盖了测试算法、故障模拟、电路设计方法等多个方面。本文将对这些研究成果进行梳理和介绍。

2. 测试算法相关研究

2.1 基于传递闭包的测试生成算法

Q. Lin 提出了基于传递闭包的测试生成算法的高效技术。该技术旨在提高测试生成的效率，为电路测试提供更优的解决方案。通过优化算法流程，能够更快速地生成有效的测试用例，减少测试时间和成本。

2.2 顺序电路测试生成系统

S. Mallela 和 S. Wu 开发了顺序电路测试生成系统。此系统可以针对顺序电路的特点，生成合适的测试序列，以检测电路中的故障。其工作流程可能包括对电路结构的分析、状态转移的模拟等步骤，从而确保测试的全面性和准确性。

2.3 自适应随机测试生成

K. P. Parker 研究了自适应随机测试生成方法。该方法能够根据电路的实际情况，自适应地调整测试用例的生成策略，提高测试的覆盖率和效率。具体操作步骤可能包括：
1. 对电路进行初步分析，确定关键节点和可能的故障类型。
2. 随机生成初始测试用例，并对电路进行测试。
3. 根据测试结果，分析未覆盖的故障区域，调整随机生成的参数。
4. 重复步骤 2 和 3，直到达到满意的测试覆盖率。

3. 故障模拟相关研究

3.1 高级故障模拟系统算法

C.-Y. Lo 等人提出了