TMS320F28335调试——ADC

1.ADC的采样时间窗口：决定了AD采样时候采样脉冲的宽带，必须要有一定的宽度，AD才能完成采样和转换，否则可能还没有转换完成，采样信号消失，那么结果就不可能正确了。采样窗是控制采样开关的闭合时间，后面接的是S/H采样保持器，可以这么认为，把采样保持器看做相当于一个电容，采样开关闭合时给电容充电，但充电需要一定的时间才能充满稳定，这个时间就由采样窗来定。保持好后，这个信号就可以很好的反映被采样信号，然后由AD converter 转换为数字量。

2.2812片内ADC采样时间计算（作参考）

        1)序列采样模式(SMODE = 0)

　　[attach]12497[/attach]

　　Td(从事件触发到采样的延迟时间) = 2.5Tc;

　　TSH(采样保持/读取宽度) = (1 + Acqps) * Tc;

　　Td(sch_n)(第一个结果出现在结果寄存器的延迟时间)= 4Tc;

　　Td(sch_n+1)(后续结果出现在结果寄存器的延迟时间) = (2 + Acqps) * Tc;

　　完成一个SEQ总的耗时：

　　T = [(2.5 + 1 + Acqps + 4 + N(2 + Acqps)] * Tc = [2N + 7.5 +(N + 1)Acqps]Tc;其中Tc为采样时钟周期,N为MAX_CONV;

　　本人ADC配置为：Acqps = 1;ADCCLK = 7.5Mhz;双序列发生器模式，SEQ1,最大通道数为8(MAX_CONV = 7,即N = 7);

　　计算结果为：T = 4us;

　　级联序列发生器模式时，计算结果类推。

　　2)同步采样模式(SMODE = 1)

　　[attach]12498[/attach]

　　此模式下Td及TSH与前种模式相同，而：

　　T(schA0_n)(A通道第一个结果出现在结果寄存器的延迟时间) = 4Tc;

　　T(schB0_n)(B通道第一个结果出现在结果寄存器的延迟时间) = 5Tc;

　　T(schA0_n+1)(A通道后续结果出现在结果寄存器的延迟时间) = (3 + Acqps) * Tc;

　　T(schB0_n+1)(B通道后续结果出现在结果寄存器的延迟时间) = (3 + Acqps) * Tc;

　　完成一个SEQ总的耗时：

　　T = [(2.5 + 1 + Acqps + 5 + N(3 + Acqps)] * Tc = [3N + 8.5 +(N + 1)Acqps]Tc;其中Tc为采样时钟周期,N为MAX_CONV;

　　按上述ADC配置:Acqps = 1;ADCCLK = 7.5Mhz;双序列发生器模式，SEQ1,最大通道数为8(MAX_CONV = 7,即N = 7)

　　计算结果为：T = 5us;

3.调试ADC时要确保参考电压ADCLO接地或连接到确定的电压，避免悬空，否则会出现“幽灵”电压，采集不到真实的电压信号。

4.将ADC在RAM中的调试的程序，移到Flash中时要注意将ADC初始化函数中的DELAY_US(ADC_usDELAY)函数从Flash中提前搬到RAM中，否则程序无法执行。