EDT技术 ug - 第一章节 Getting Start

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#DFT #tessent #TestKompress

于 2022-05-16 22:50:50 首次发布

本文深入探讨了Tessent的Embedded Deterministic Testing (EDT)技术，介绍了其在TestKompress工具中的应用，以及如何通过压缩逻辑减少测试数据。内容涵盖EDT的初始化周期、硬件电路生成、DRC规则、内部控制器、EDT流程和ATPG等方面。EDT旨在优化测试时间，但不当使用可能导致效率下降。核心关注点包括scanchain压缩、Decompressor、Compactor和BypassModule的生成，以及EDT与内部链路的交互。

本系列介绍的是Tessent的EDT（ Embedded Deterministic Testing）技术。
参考为EDT tessent的 TestCompress 文档。
本系列是对ug的个人理解和知识要点笔记，并非完全翻译。

引言

EDT作为一种测试技术，在Tessent TestKompress 工具中使用，注意EDT不是工具，而是一种测试手段。
EDT形成的internal scan chain 对于tester来讲，就好像看到的是external chain一样。
如下图所示，对于tester的view来看，似乎就是两条scan channels，而实际上确实很多的Internal scan chain构成。
另外，从下面的图片中我们可以看到关于Tessent的官方说法
内部的称为Internal Scan chains ,外部的chain 称为scan channels。
在这里插入图片描述

在这里插入图片描述
EDT影响的仅仅是scan channel inputs和outputs ，而不会对functional path造成影响。
Each compressed test pattern has a small number of additional shift cycles, so the total number of shifts per pattern would be slightly more than the number of scan cells in eath chain。
在这里插入图片描述
上面是比较关键的部分， additional shift cycles 指的是intialization cycles ，包括有masking bits， low-power bits， user-defined pipeline bits.

如果不考虑masking and 和 low power技术
如果一个设计中有16条scan channels ，1250条 scan cell per chain， 50bit 的decompressor（50条sub chain）
50/16 =3.1(ration) 向上取整数，也就是等于4
也就是说每一支

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