NXP Kinetis L系列：15.调试技术：JTAG与SWD

最新推荐文章于 2025-06-05 19:13:05 发布
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分类专栏： STM32等单片机教程 文章标签： 单片机 嵌入式硬件 arm开发
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15. 调试技术：JTAG与SWD

在单片机开发过程中，调试技术是确保代码正确性和系统稳定性的关键步骤。NXP Kinetis L 系列单片机支持两种主要的调试接口：JTAG (Joint Test Action Group) 和 SWD (Serial Wire Debug)。本节将详细介绍这两种调试接口的原理和使用方法，并提供具体的代码示例。
在这里插入图片描述

15.1 JTAG接口

15.1.1 JTAG原理

JTAG接口是一种行业标准接口，最初用于测试印刷电路板上的焊接连接。然而，它也被广泛用于嵌入式系统的调试。JTAG标准定义了多个测试访问端口 (Test Access Port, TAP)，通过这些端口可以访问芯片内部的测试和调试逻辑。JTAG接口通常包括以下引脚：

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NXP 系列：Kinetis L 系列 (基于 ARM Cortex-M0+ 和 M4)_15.调试技术：JTAG与SWD
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开发工具 之八 详解 JTAG、SWD 接口
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JTag 提取NXP固件脚本示例
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请注意，以上脚本中的"YOUR_DEVICE_NAME"、"YOUR_DEVICE_SETTINGS"、"YOUR_JTAG_FREQUENCY"、"YOUR_FLASH_ADDRESS_START"、"YOUR_FLASH_ADDRESS_END"、"YOUR_CHECKSUM_FILE_PATH"和"YOUR_SAVE_FILE_PATH"等部分需要根据实际情况进行替换和配置。YOUR_FLASH_ADDRESS_END为Flash结束地址。
JTAG与SWD的功能辩解有和相关
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NXP KL03--5.j-link （SWD）链接
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