NXP Kinetis L系列：15.调试技术：JTAG与SWD

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分类专栏： STM32等单片机教程 文章标签： 单片机 嵌入式硬件 arm开发
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15. 调试技术：JTAG与SWD

在单片机开发过程中，调试技术是确保代码正确性和系统稳定性的关键步骤。NXP Kinetis L 系列单片机支持两种主要的调试接口：JTAG (Joint Test Action Group) 和 SWD (Serial Wire Debug)。本节将详细介绍这两种调试接口的原理和使用方法，并提供具体的代码示例。
在这里插入图片描述

15.1 JTAG接口

15.1.1 JTAG原理

JTAG接口是一种行业标准接口，最初用于测试印刷电路板上的焊接连接。然而，它也被广泛用于嵌入式系统的调试。JTAG标准定义了多个测试访问端口 (Test Access Port, TAP)，通过这些端口可以访问芯片内部的测试和调试逻辑。JTAG接口通常包括以下引脚：

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