JTAG标准笔记：IEEE1149.1、IEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6、 IEEE1500等协议之前的发展和联系

最新推荐文章于 2025-05-27 09:20:36 发布

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分类专栏：硬件和移动端文章标签：笔记

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JTAG (Joint Test Action Group) 是一种串行通信协议。对于典型的串行通信，总线较少，线路数通常为1到4条，数据是以位为单位依次传输的。
笔记中大部分图片来自JTAG标准介绍UP的视频

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IEEE 1149.1，通常称为JTAG（Joint Test Action Group），是一个标准化的测试方法，用于对集成电路（IC）和电路板进行测试和调试。该标准定义了在芯片上设置的测试访问端口（TAP），通过串行扫描链控制芯片内部的寄存器，从而测试和调试芯片或电路板。

边界扫描寄存器

符合 JTAG 标准的芯片，如许多微处理器、微控制器、FPGA、CPLD 以及一些复杂的数字芯片，通常都包含边界扫描寄存器。
内部蓝色的方框：边界扫描寄存器通过将芯片的每个 I/O 引脚与一个可控的寄存器单元相连接，提供了一种强大的测试和调试机制。它能够有效地检测和定位电路板中的故障，并且广泛应用于集成电路和 PCB 的生产测试与调试过程中。

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IEEE1149.1

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IEEE 1149.1，也称为标准测试访问端口和边界扫描架构（Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture），是由电气和电子工程师协会（IEEE）制定的一个标准。这个标准通常也被称为 JTAG（Joint Test Action Group），因为它是在一个名为 JTAG 的行业工作组的推动下开发的。IEEE 1149.1 广泛应用于电子行业中复杂集成电路和电路板的测试与调试。它通过定义标准的测试接口和边界扫描架构，提供了一种高效、灵活的测试方法，极大地提高了生产和维护的效率。

IEEE 1149.1 标准的主要内容：

测试访问端口（TAP）:
- IEEE 1149.1 定义了一种标准的测试访问端口（Test Access Port, TAP），这个端口包括一组引脚：TDI（Test Data In，测试数据输入）、TDO（Test Data Out，测试数据输出）、TMS（Test Mode Select，测试模式选择）、TCK（Test Clock，测试时钟）和可选的 TRST（Test Reset，测试复位）。
- TAP 用于在芯片内部访问测试和调试功能，