STM32-ADC过采样实验

最新推荐文章于 2025-05-11 21:55:15 发布

Mr_rustylake

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分类专栏： stm32 文章标签： stm32 单片机嵌入式硬件

本文链接：https://blog.youkuaiyun.com/Mr_rustylake/article/details/130692534

我们之前已经有过一些关于STM32-ADC的笔记和实验代码了，链接如下：

关于ADC的笔记1_Mr_rustylake的博客-优快云博客

STM32-ADC单通道采集实验_Mr_rustylake的博客-优快云博客

STM32-单通道ADC采集（DMA读取）实验_Mr_rustylake的博客-优快云博客

STM32-ADC多通道输入实验_Mr_rustylake的博客-优快云博客

首先简单介绍一下过采样。对于12位的STM32，其所能分辨的最小电压（即最小刻度）为3.3V / 2^12 = 0.0008V。在不改进硬件的情况下，可以通过过采样和求均值的方式提供ADC分辨率。

根据增加的分辨率位数计算过采样分辨率频率的方程：

fos = 4^w * fs，fos是过采样频率，w是希望增加的分辨率位数，fs是初始采样频率要求。

比如从12位提升ADC分辨率到16位分辨率，采样频率就要提高256倍。将采样结果求和，再将求和结果右移N位（N为用户想提升的位数，本例中为4），就能得到提高分辨率的结果了，这个过程称为抽取。

本次ADC过采样实验的实验要求是：通过ADC1通道1(PA1)过采样实现16位分辨率采集电压，并显示ADC转换的数字量和转换后的电压值。

首先确定我们的最小刻度，Vref = 3.3V，所以0V <= Vin <= 3.3V，所以最小刻度是3.3V / 65536（2^16）。

接下来确定转换时间。采样时间1.5个ADC时钟周期为例，可以得到转换时间为1.17 * 256us。

时间转换公式参考如下公式：Tcvtmin=（12.5+X）周期=(12.5 + X)/(12MHz)=1.17us。

接下来编写实验代码：

先编写函数文件adc.c：

#include "./BSP/ADC/adc.h"
 
ADC_HandleTypeDef g_adc_handle;
DMA_HandleTypeDef g_dma_handle;
uint8_t g_adc_dma_sta; //标志DMA的传输是否完成
 
void adc_dam_init(uint32_t mar){
 
    ADC_ChannelConfTypeDef adc_ch_conf;
 
    __HAL_RCC_DMA1_CLK_ENABLE();
 
    g_dma_handle.Instance = DMA1_Channel1;
    g_dma_handle.Init.Direction = DMA_PERIPH_TO_MEMORY;  //外设到内存
    g_dma_handle.Init.PeriphInc = DMA_PINC_DISABLE;  //因为选取的是DM