射频指标杂散简略

杂散是射频电路中要关注的重要指标,射频信号的质量也会受到杂散的影响,杂散即杂波,也就是除了所需信号外的其他信号,一般抑制杂散的方法是采用滤波器,通过设置滤波器的抑制频带范围来达到抑制杂散的目的,这种方式适合杂散在工作频带外的,而在工作频带内的杂散抑制,则主要是器件的选型和电路的规划,杂散的分布一般是无规律的,可根据具体的杂散分布情况具体应对,杂散的定义是相对有用信号,因此其与有用信号的差值即为杂散抑制,这个差值越大,杂波抑制的效果越好,一般大于60dB,在提高杂散抑制指标的同时,也要考虑其设计复杂性带来的可靠性问题。仅供参考。

参考资源链接:[使用CMW500按照3GPP TS 36.521-1规范测试LTE终端射频性能](https://wenku.youkuaiyun.com/doc/645af258fcc5391368282181?utm_source=wenku_answer2doc_content) 针对LTE终端的射频性能测试,依据3GPP TS 36.521-1规范,CMW500测试仪提供了一系列的测试项目,以确保终端的发射机和接收机性能符合标准。测试开始前,确保CMW500已正确连接并配置好测试环境,包括相关的测试软件和硬件设置。 在执行发射机测试时,按照规范的要求,首先进行最大输出功率的测试,确保终端在不同条件下均能达到规定的功率水平。接着,通过最大功率降低和额外最大功率降低测试来验证终端在多载波或特殊配置下的功率调整能力。最小输出功率测试用于确保终端在输出功率最小时的性能,关断功率测试则评估终端在关闭状态下的射频泄露情况。发射/关断时间模板测试则是为了验证终端能够快速切换到关断状态,以减少能耗和避免干扰。 对于接收机测试,虽然文档中描述简略,但应包括灵敏度测试,以确定终端接收信号的最低强度。同时,频率误差和EVM测试对于确保信号质量至关重要。频率误差测试用于检查终端的载波频率是否符合规范要求,而EVM测试则是衡量发射信号与理想信号之间偏差的指标。 在功率控制测试中,绝对功率控制容限和相对功率控制容限测试用于验证终端在多用户环境中的功率调整能力,而集合功率控制测试则确保了终端能够有效地与其他终端协调发射功率。 对于发射信号的频谱特性,载波泄漏测试检查终端是否有信号泄漏到不该发射的频率上,未分配资源块带内测试评估信号在未分配资源块上的频谱纯度,EVM均衡器频谱平坦度测试确保信号在频谱上具有良好的平坦度。最后,占用带宽和频谱发射模板测试确保终端发射的信号不会超出规定的频谱范围。 通过使用CMW500测试仪并遵循这些步骤,可以全面地评估LTE终端的射频性能,并确保其符合3GPP TS 36.521-1标准。这一过程对于终端制造商来说,是确保产品能够顺利接入网络并提供高质量服务的关键步骤。为了深入理解和掌握这些测试方法,推荐详细阅读《使用CMW500按照3GPP TS 36.521-1规范测试LTE终端射频性能》这份应用指南,它将为您提供实用的指导和解决方案。 参考资源链接:[使用CMW500按照3GPP TS 36.521-1规范测试LTE终端射频性能](https://wenku.youkuaiyun.com/doc/645af258fcc5391368282181?utm_source=wenku_answer2doc_content)
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