DFT之扫描测试SCAN test

扫描测试（Scan Test）是一种用于芯片数字逻辑测试的技术。以下是对扫描测试的详细介绍：

一、定义与原理

扫描测试是一种基于扫描链的设计测试方法，主要用于逻辑电路的故障检测。它通过在芯片设计中插入扫描链，即将设计中的触发器连接成一个或多个串行链路，使得测试人员可以通过外部测试设备直接设置和读取触发器的状态。这样，测试模式可以被“扫描”进入芯片，同时测试响应也可以被收集。

二、测试过程

扫描测试的执行过程依赖于外部测试设备来应用测试向量（模式）和捕获测试响应。这个过程通常分为两个主要阶段：

 

加载测试模式：测试模式通过扫描链输入到芯片内部。

捕获测试响应：芯片按正常工作模式运作一段时间后，测试响应被通过扫描链输出到外部设备进行分析。

 

三、分类与特点

扫描测试主要分为DC Scan和AC Scan两种模式：

 

DC Scan（慢速测试）：测试频率在10M-40M之间，是一种较为基础的测试模式。

AC Scan（实速测试）：测试频率即芯片实际工作频率，用于检测芯片中的延迟故障。AC测试时，ATE（自动测试设备）只提供慢速的移位时钟和测试控制信号，高速测试脉冲由片内产生，如PLL（相位锁定环）。

 

扫描测试的特点在于其高度的灵活性和广泛的应用范围。通过扫描链设计，几乎所有的逻辑故障都可以被检测到，包括一些简单的BIST（内置自测试）方法难以覆盖的故障类型。

四、应用与优势

扫描测试在芯片设计和制造过程中起着重要的作用&#