欢迎观看这个关于使用infineon的SPICE模型来进行功率MOSFET仿真的视频,在第二部分,我们会看两个仿真实例。
在这个培训的第一部分,你会看到功率MOSFET结构如何影响热行为。分析Cauer 一维热模型如何集成进SPICE模型。
现在解释两种仿真工况,来演示汽车功率MOSFET的SPICE模型如何工作。
第一是反极性保护,第二是高边开关。
让我们评估MOSFET热响应,观察电路如何处理意料外的操作工况。
首先让我们讨论SPICE仿真。
仿真工具例如infineon Designer, SIMetrix, LT-SPICE, 或其他仿真软件为设计、优化以及分析电路提供有力支持。
这些工具使开发者可以高效建模、分析、优化电路设计。除了电子元件描述,infineon 功率MOSFET level 3 SPICE模型也包含了热模型。这些热模型使用了一维Cauer 阻容网络来模拟MOSFET热行为。
此外,电学模型与热模型链接在一起,允许模拟由于功率耗散造成的自加热的影响,以及温度对一些关键电参数的依赖。
此外,MOSFET level 3 模型接口扩展了标准漏极,源极,栅极引脚,增加了2个附加引脚。
一个引脚是MOSFET内部结温,另一个是封装的热焊盘壳温。
添加外部电路模拟壳到环境的热路径。
最后,SPICE模型集成了热网络可以仿真各种操作工况的热响应。可以观察短时过载工况,评估MOSFET热影响。
要分为两种应用实例,来分析功率MOSFET热行为。
第一个例子是一个控制单位中的反极性保护电路的MOSFET在最大电流持续流过MOSFET时的稳态热行为。
第二个例子是MOSFET在一个电子控制单元中作为高边开关,有一个阻性负载。
在这个例子中,我们会检验一个反极性保护电路里的MOSFET,尤其在电源输入端。
极差情况按如下设置:
最大环境温度设置为95℃,这个参数会被许多因素影响,包括这个控制单元在车辆的安装位置,装置的外壳设计,以及其他环境条件。
流过MOSFET的最大负载电流是30A,驱动器为MOSFET VGS提供最少10V电压,供电电压是48V直流,MOSFET为TOLL封装,PCB为 JEDEC 2s2p,SPICE仿真软件确定当MOSFET处于最差情况运行时的裸片级的稳态结温。
我们考虑下MOSFET安装按JEDEC 2s2p标准设计的在FR4 PCB板卡,PCB为4层板,MOSFET PG-HSOF-8 或 TOLL 封装在漏极焊盘预设了一定数量连接了top与bottom的热过孔,增强top到bottom的散热能力,这样,top与bottom层可以对环境自由对流.
这种情况下,壳到环境热阻大约为18K/W。多数车规级MOSFET,infineon都提供对应封装的热手册,描述标准板卡类型的详细热特性,不同封装类型,以及散热配置。
仿真电路由以下元件组成。输入电压驱动电流流过MOSFET U1,在这个应用里,电流从源极流向漏极,而不是通常的漏极流向源极,通过负载电流,这个定义了MOSFET必须传导的电流。
电压源代表驱动器,提供10V VGS电压以打开MOSFET,为了保持驱动电路尽可能简单,仿真电路不考虑当电池电压反接时MOSFET U1关闭。
电压源被设置为95V,代表环境温度95V,热阻模型为环境温度与壳温建立了热路。电阻代表了MOSFET bottom到环境的热阻。由于我们聚焦结温最大值,不用考虑电路达到稳定的时间,因此仿真没有考虑热容。从而仿真达到稳态时间会小于实际被热容影响的PCB板卡。Tcase传感器可以监控壳温
电容C1只用于仿真,执行MOSFET最差情况的热响应不影响仿真结果。
MOSFET两个参数必须被设置为最大,热阻,漏源导通压降。为了得到最大输出结果,可以将dRDson与dZth都设置为1。
仿真类型设置为DC偏置点分析,因为我们只对最大稳态温度感兴趣。因此,达到稳态的时序是不相关的。
这些来自于仿真包含电路所有稳态电压与电流的输出文件。
MOSFET U1 源极到漏极的电流是30A, 裸芯产生的热量全从热焊盘耗散,从MOSFET到焊锡,到PCB,到环境。该热量与 MOSFET 的 Tcase 引脚处输出电流所导致的功率损耗相对应,在这个例子里,大约为3.3W。
这些寄生损耗是由 MOSFET 在导通状态下产生的导通损耗所引起的。
壳温,由Tcase节点电压表示,约为155℃。
这个温升是由于PCB热阻,大约比环境温度高60K。
考虑前面设置的极差情况,裸芯最大温度是157.1℃,
最重要的发现是MOSFET在允许的极限值范围内操作,最大结温小于最大允许结温175℃。
如仿真所示,控制单元选择MOSFET达到约157℃的稳态结温。
从商业角度,有必要检查是否有其他更好的MOSFET选择,基于同样的技术,同样的封装类型,但是有更小的裸芯对应更高的Rdson内阻。
下一颗更高导通内阻的MOSFET,用同样技术,同样封装类型是这一颗。导通内阻约增加20%。
为进行新测试,需要在原仿真电路中,替换MOSFET,记得设置dZth与dRDSon为1,这会导致Rdson与结壳热阻最大值,其他参数可以保持一致。
MOSFET更高的Rdson会导致稍低的负载电流,然而,流经MOSFET的电流变化可以忽略不计。
重新运行仿真,结果显示,RDson高20%的MOSFET在极差情况下,不适合运行。
电流ISD流经MOSFET保持30A,MOSFET有更高的RDson,导致了更高的功率损耗,如Icase表示的,功率损耗增加到4.7W,比之前的高42%。
增加的功率损耗导致稳态壳温约为180℃,结温达到183℃,超过了最大操作温度的限制。
结温超过允许值8K,因此,更高的RDson MOSFET 不适用于此应用。
第二个例子,我们考虑控制功率分配的域控。域控的一个功能是控制电源到阻性负载的闭合与断开。除了输出为负载提供能量,域控也通过一个快速电流传感器监控输出电流。
在过流条件下,或域控输出检测到短路,MOSFET会与负载断开连接。
在这个仿真里,这样设置条件,正常工况的最大负载电流为20A,短路电流700A。控制器需要在20us的时间窗口里检测故障状态切断故障电流。
最小驱动输出电压为10V,驱动输出上升与下降时间都为35ns。驱动输出到栅极电阻为4.7R。其他条件与第一个例子一致。
PCB热特性主要影响MOSFET稳态壳温。然而,在短路条件下,PCB不影响最大结温,因此,没有必要为仿真加入复杂的PCB热阻模型。
SPICE仿真为了计算当连接负载时发生短路情况的最大结温。仿真同样需要考虑稳态时正常电流导致的MOSFET自加热。
输出电压驱动电流通过MOSFET X1,电流从漏极流向源极,经过负载电阻。
当正常操作1s后,附加电压驱动阻性开关闭合,导致通过MOSFET电流瞬间从20A增加到700A。
在控制器检测故障状态时间20us后,高边驱动被控制器触发断开MOSFET X1。
电压源设置为95V,对应环境温度95℃。热堆叠,由PCB与焊锡组成,在环境温度与MOSFET壳温之间,用热阻模拟。网络中的电压返回结温。
考虑最差情况的MOSFET响应,必须设置MOSFET X1热阻与RDson到最大值。为了捕获MOSFET动作时间,仿真类型设置为瞬态分析。
这是仿真结果,电流流过MOSFET保持20A,知道在1s时发生短路事件。在短路情况下,电流快速升到700A。
由于结温上升导致RDson上升,电流略微下降。
20us后,控制器响应故障状态,切换MOSFET,导致电流掉到0A。
黄色波形显示MOSFET外壳或漏极焊盘的温度,保持大约116℃。这说明在整个短路期间,MOSFET吸收了几乎所有功率损耗,只有很小的热耗散到环境。
只有选取合适MOSFET才能满足短路条件。增强散热系统不能应对这种工况。
减少壳到环境热阻Rthca,在短路时,不会改变仿真结果。
紫色波形显示MOSFET结温。在短路时,传导功率损耗导致结温到116℃,结温与环境温度差值为21K。
在短路状态,结温上升非常快,20us内到达155℃。
MOSFET从闭合状态到断开状态的瞬间产生了附加的开关损耗,导致了结有更大的功率耗散。这可以在温升尖峰里看到。
当电流掉到0A,结开始降温,因为没有加热能量了。
MOSFET结达到最大温度接近162℃,这个温度在MOSFET允许结温范围内。
依据仿真结果,可以看到选择MOSFET是满足应用需求的正确方法。