[FPGA下降沿单双沿采样技术详解] FPGA是一款强大的硬件设计工具,广泛应用于各种数字电路设计和信号处理领域中。在数字电路设计中,采样是一个非常重要的环节。本篇文章将详细介绍FPGA中单沿和双沿采样,在其中特别着重于下降沿采样的技术。
在数字电路中,采样是一个重要的环节,通过采样可以对连续时间信号进行离散化并且方便后续的处理。在FPGA中,采用单沿采样或双沿采样的方式可以有效减少电路的功耗和提高电路的效率。在单沿采样中,每个时钟周期只采样一次,而在双沿采样中,每个时钟周期采样两次。这两种方式各有优缺点,具体使用哪种方式需要根据实际情况进行选择。
而在下降沿采样中,我们只在信号下降沿时进行采样,相对于普通采样,下降沿采样可以减少电路所需采样周期的数量,进而减少功耗和延迟。下降沿采样可以通过两种方式实现:单沿下降沿采样和双沿下降沿采样。
代码实现如下:
单沿下降沿采样:
always @(posedge clk)
begin
if(!reset_n) //异步复位信号,下同
counter <= 0;
else begin
counter <= (counter == cnt)? 0 : counter + 1;
if(!data_in && counter == 0) //下降沿条件
data_out <= 1;
else
data_out <= 0;
end
end
双沿下降沿采样:
本文深入探讨了FPGA中的单沿和双沿采样技术,特别是下降沿采样,介绍了如何通过这种方式减少功耗和延迟。文章提供单沿下降沿采样和双沿下降沿采样的代码实现,并指出在实际应用中应根据需求选择合适的方法。
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