基于OCVD（开路电压衰减）测定少子寿命的操作

简述

目前对于光生载流子寿命的测试都是基于一些光谱分析，如瞬态吸收光谱或时间分辨荧光光谱等，但这些测试较贵，而且数据处理比较繁琐，但在很多光催化文献中对于光生载流子寿命的评估又至关重要。

在这里本文为大家介绍一种简单的通过电化学工作站即可完成的光生载流子寿命测试方法。

OCVD测试法

电极材料的制备：

首先我们需要制备电极材料，将FTO玻璃片进行清洗并烘干备用。将催化剂（10 mg）加入到1 ml的乙醇中，在加入10 ul 5%的Nafion溶液，超声处理30 min，取0.1 ml的样品滴加在1*2 cm2的FTO玻璃片上（只在1*1 cm2区域进行滴加），然后在真空干燥箱120oC，干燥2小时即可。

测试系统搭建：

以三电极系统进行测试，其中参比电极用Ag/AgCl电极，对电极用铂丝电极，我们制备的电极样品为工作电极，以0.2 M的Na2SO4为电解液。

OCVD测试（以CHI660E为例）

1. 打开电化学工作站，并查看链接是否成功，如下操作：出现全部OK即为成功，这里没有链接电化学工作站，所以只做展示。

2. 在链接成功的条件下，调出电压与时间关系的参数设置中选择最后一项，如下所示：

3. 电击OK以后会弹出如下窗口，设定参数：其中，Run Time,指运行时间，Sample Interval指取样间隔，越小，数据越密集，High E，最大电压，Low E，最小电压，这二者一般根据材料开光以后的电压大小进行设置。

4. 参数设置完成以后，首先点击运行按钮，在不开光的条件下让线端走直，然后在开光，一定时间以后在关光即可，具体的参数可参考文献。

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