DAC INL/DNL测试

适用范围：

测试方法适用于所有芯片型号，用于测试DAC模块的INL/DNL参数。

INL（积分非线性）:DAC的INL指在失调 、增益误差被校正后，实际的传输曲线偏离理想中心线的程度，即：

$$INL=(V_{实际} -V_{理想})/1LSB$$

DNL（微分非线性）:在 DAC 实际传输曲线中，每个输出代码对应的输入电压宽度称为码宽，DNL指实际码宽电压与理想码宽电压 （LSB： Least Significant Bit） 之差，即：

$$DNL=(V_{实际码宽}-V_{理想码宽})/V_{理想码宽} （单位：LSB）$$

测试原理：

通过一个精度高于待测DAC的ADC采样待测DAC的输出值，DAC均匀输出三角波，通过ADC采样得到的码值计算DAC的INL\DNL，ADC采样码值计算方法详见ADC INL&DNL测试方法和实例。

测试工具：

是德E36106B（直流电源）,高精度ADC（16位）

连接方式：