芯片启动时间测试

最新推荐文章于 2024-09-18 23:26:45 发布

APTCHIP

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分类专栏： IP测试方法文章标签：嵌入式硬件 c语言

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本文介绍了如何通过示波器测量芯片从供电到正常工作期间的启动时间，涉及不同系列芯片的IO口设置汇编代码示例，强调了将IO口置高代码置于启动代码首位以减小测量误差。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

概述

如何判断芯片正常启动，芯片上电后，能够正确的执行程序代码，这是最好的判断依据。例如芯片正常工作的电压为1.64V(不同的芯片正常工作的电压可能不一样)。芯片启动时间为，供电电压上升到1.64V之后，到芯片正常工作的时间，在这个时间内，主要经历了芯片等待时钟稳定、FLASH初始化、读取FLASH TRIM值等操作。

在启动代码中，添加IO口高电平输出程序，然后通过示波器进行测试，能够精准的测量出芯片的启动时间。即测量电压1.64V到IO口的上升沿时间间隔，其中IO口上升沿汇编指令操作，理论上不能计算到芯片启动时间中。

代码配置

因为内核不一样，IO口置高的汇编程序也不一样，例如,对PB02配置为高电平输出，汇编代码如下。

CK80x系列：

  //set pb0.2 out
  lrw r1,0x60002000
  movi r2,0x200
  st.w r2,(r1,0x0)

  //set pb0.2 high
  lrw r1,0x6000200c
  movi r2,0x04
  st.w r2,(r1,0x0)

E90x系列：

  //set pb0.2 out
   la a1,0x60002000
   la a2,0x200
   sw a2,(a1)

   //set pb0.2 high
   la a1,0x6000200c
   la a2,0x04
   sw a2,(a1)

实操图(APT32F173X芯片)

工具：示波器、电源（可配置输出电压斜率）。

注意事项

IO口置高汇编代码，需要放在启动代码的最前面，这样可最大程度上规避，代码造成的测量误差。