记录每一次成长

STM32的中断优先级控制寄存器由两部分组成，

昨天在测试一只电表的时候因为接地的原因烧毁了一只电表。整体经过是这样：用示波器测试电表的一个管脚波形，因此需要将示波器的接地夹和电表的地线连接起来，但是当示波器接地夹连接上电表地的时候，示波器接地夹和电表地之间出现了很大的火花，接着电表无显示。事后分析，发现电表的地平面和电表输入的零线端是导通的，而我们可能将电表的零线接为了火线，导致悲剧的发生。整个过程和连接方法用下图表示：  图1 浮地测试示意

EMC的概念  EMC=EMS+EMI  EMC:electromagnetic compatibility--电磁兼容性  EMI:electromagnetic interference--电磁干扰，主要表现为设备对外的辐射和传导干扰  EMS:electromagnetic susceptibility--电磁敏感度，主要说明设备的抗干扰能力EMC中的传导途径  电磁干扰可以通过无线辐射和电

在电力载波通信产品研发过程中，产品通信距离是一个重要指标。而在设计阶段，每一种方案都需要进行距离测试，如果进行实际距离测试比较浪费时间，且容易对其他电力通信产生干扰，因此需要找到一种等效距离的测试方法。衰减器就成了首选，我们购买了北京中宇豪的一个衰减器，其电路结构为两个共模电感加三个电容，一个功率电阻构成，如图1所示：图 1.通用EMC滤波电路实际测试发现，该款产品不能对我们耦合到电力线的通信信号

之前在做一块电路板的时候遇到这样一个问题：当时公司需要设计一款通信类产品，暂时命名为A系统。A系统硬件设计完成以后，调试过程发现晶体无法正常振荡。但是时钟电路是已经被验证过的成熟设计。硬件设计找不到原因，最终找到一种妥协的办法：在编写软件的时候调整了晶振起振的等待时间，板子终于开始正常工作了。就这样，软硬件调试完毕以后，正式交予生产部门投产。几个月之后，售后服务人员反映，同一个晶体在A系统不容易起

在写本文之前我不得不痛批ST的comtex-M3的I2C做得实在是太烂了！就这样一个简简单单的I2C，需要无数多的配置，无数多的寄存器，无数多的标志位，难道ST的目标就是把简单的东西复杂化么？复杂了就难用。另一方面，ST官方给的I2C eeprom例程中while死等的语句比比皆是，本来I2C就做得复杂，还四处布满死等代码，很容易在使用中让系统死机。言归正传，前边的抱怨也是我调试I2C的起因。查过

调试载波通信系统的时候遇到这样一个问题：两台设备分别为A何B，他们都使用了定时器2~4来进行通讯，A设备的PCLK1配置为HCLK,而B设备的PCLK1配置为1/2HCLK，通讯过程发现A，B两个设备偶尔能通讯偶尔不能通讯，表现出通讯部稳定。理论上应该完全不能通讯才是，深入研究STM32F101C8T6的数据手册发现问题所在，截图如下：图1  STM32功能框图图2 STM32 时钟系统    从

开发环境：keil MDK V5.10操作系统：windows 7(32位)目标硬件：STM32F10

问题描述：在使用jtag对某软件进行调试的时候，

开发环境：keil MDK V5.10操作系统：windows 7()