微电子技术的发展历程与应用优势
1. 早期半导体器件的发展
早期,分立器件开始应用于工业设备中。最初的商用器件是锗结型晶体管,其集电极和发射极区域从相对的两侧扩散到基极区域,形成 pnp 或 npn 结构。虽然锗的空穴和电子迁移率比硅高(锗的空穴和电子迁移率分别为 0.39 和 0.19 m² V⁻¹ s⁻¹,而硅分别为 0.14 和 0.05 m² V⁻¹ s⁻¹),这使得锗更容易实现高频性能,但锗较差的温度特性以及无法保护关键的晶体管周边(“冶金结”),意味着从 20 世纪 60 年代起,硅将成为主导的微电子技术。
硅技术逐渐占据主导地位,主要是由于平面制造技术的发展。在这种技术中,所有制造步骤都在硅晶圆的一个表面(平面)上进行,二氧化硅不仅为冶金结提供了保护,还在需要的区域之间提供了良好的隔离。最初,硅比锗更难加工,这也是锗成为首个商用技术的部分原因。
1952 年,英国大马尔文皇家雷达机构的 G. W. A. Dummer 可能是第一个设想出完全互连的单片电路可能性的人,而不是先制造分立的半导体器件,再通过导线或其他方式将它们互连起来。不过,大部分的开发工作是在美国率先开展的,特别是德州仪器的 Jack Kilby,随后还有仙童和斯普拉格等公司。到 1962 年,小规模集成电路(SSI)封装开始广泛应用于工业领域。
2. 硅技术的持续演进
自 20 世纪 60 年代以来,硅技术基于平面技术不断快速发展。在接下来的二十年里,芯片复杂度从最初的小规模集成(SSI)能力,经过中规模集成(MSI)和大规模集成(LSI),发展到如今的超大规模和特大规模集成(VLSI 和 ULSI)。这一发展过程可以通过经典的摩尔定律图表来体现。
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