
Blob分析主要内容包括但不限于以下几点:
(1)图像分割:将图像中的目标和背景分离。
(2)去噪:消除或减弱噪声对目标的干扰。
(3)场景描述:对目标之间的拓扑关系进行描述。
(4)特征量计算:计算目标的2-D形状特征。
Blob分析的主要过程(常用套路):
获取图像->分割图像(区分前景像素和背景像素)->特征提取(比如面积、重心、旋转角度等)
参考:https://blog.youkuaiyun.com/Gavinmiaoc/article/details/79407685
* ball.hdev: Inspection of Ball Bonding
* 这个例子演示了如何找出 电路板上 那一排焊接点
dev_update_window ('off')
*把更新环境窗口关了
dev_close_window ()
dev_open_window (0, 0, 728, 512, 'black', WindowID)
read_image (Bond, 'die/die_03')
dev_display (Bond)
set_display_font (WindowID, 14, 'mono', 'true', 'false')
disp_continue_message (WindowID, 'black', 'true')
stop ()
threshold

这篇博客详细介绍了如何运用Blob分析技术来检测电路板上的焊接点。首先进行图像分割和去噪,然后通过形状转换和特征提取定位焊接点。接着使用开运算和连接分析精确定位并筛选出焊接点,最后计算每个焊接点的最小外接圆,并输出其直径。整个过程展示了Blob分析在电子检测中的应用。
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