hdu 3874 Necklace

本文分享了一道经典的离线查询问题的解题思路及代码实现。通过枚举区间内的唯一元素并使用线段树进行更新,巧妙地解决了区间查询问题。文章详细介绍了算法原理及其在实际代码中的应用。

http://acm.hdu.edu.cn/showproblem.php?pid=3874

这题题目是好题呀!可以我想不出来,看了网上的题解才明白!

当时我想的是枚举从1 到 当前 r 区间中只出现一次的和,但是对于 询问 【l ,r】就 如果某个数在 只在[ 1 , L-1]  或者 [ l , r ] 区间出现答案都正确,但是对于 有些数 在两个区间都出现的话,一减的话相当于没有出现,答案就不对了…… 看了网上的解题办法,是这样的话,如果当前的数之前出现的话,那么把之前的位置处减去,然后再当前位置插入……


离线查询


#include <iostream>
#include <cstdio>
#include <cstring>
#include <algorithm>


using namespace std;
#define lowbit(x) x&(-x)
const int maxn=500100;
typedef long long ll;

ll d[maxn],ans[maxn];
int n,last[1000010],a[maxn];

struct Node
{
    int l,r,id;
}node[200010];

int cmp(Node a,Node b)
{
    if(a.r!=b.r) return  a.r < b.r;
    return a.l < b.l;
}
void add(int p,int val)
{
    for(int i=p;i<=n;i+=lowbit(i))
      d[i]+=val;
}
ll query(int p)
{
    ll sum=0;
    for(int i=p;i>=1;i-=lowbit(i))
      sum+=d[i];
    return sum;
}
int main()
{
    int m,ca;
    scanf("%d",&ca);
    while(ca--)
    {
        scanf("%d",&n);
        memset(d,0,sizeof(d));
        memset(last,-1,sizeof(last));
        for(int i=1;i<=n;i++)
          scanf("%d",&a[i]);
        scanf("%d",&m);
        for(int i=0;i<m;i++)
          scanf("%d %d",&node[i].l,&node[i].r),node[i].id=i;
        sort(node,node+m,cmp);
        int r=1;
        for(int i=0;i<m;i++)
        {
            while(r<=node[i].r)
            {
                if(last[a[r]]!=-1) add(last[a[r]],-a[r]);
                last[a[r]]=r;
                add(r,a[r]);
                r++;
            }
            ans[node[i].id]=query(node[i].r)-query(node[i].l-1);
        }
        for(int i=0;i<m;i++)
          printf("%I64d\n",ans[i]);
    }
    return 0;
}



代码下载地址: https://pan.quark.cn/s/bc087ffa872a "测控电路课后习题详解"文件.pdf是一份极具价值的学术资料,其中系统地阐述了测控电路的基础理论、系统构造、核心特性及其实际应用领域。 以下是对该文献的深入解读和系统梳理:1.1测控电路在测控系统中的核心功能测控电路在测控系统的整体架构中扮演着不可或缺的角色。 它承担着对传感器输出信号进行放大、滤除杂音、提取有效信息等关键任务,并且依据测量与控制的需求,执行必要的计算、处理与变换操作,最终输出能够驱动执行机构运作的指令信号。 测控电路作为测控系统中最具可塑性的部分,具备易于放大信号、转换模式、传输数据以及适应多样化应用场景的优势。 1.2决定测控电路精确度的关键要素影响测控电路精确度的核心要素包括:(1)噪声与干扰的存在;(2)失调现象与漂移效应,尤其是温度引起的漂移;(3)线性表现与保真度水平;(4)输入输出阻抗的特性影响。 在这些要素中,噪声干扰与失调漂移(含温度效应)是最为关键的因素,需要给予高度关注。 1.3测控电路的适应性表现测控电路在测控系统中展现出高度的适应性,具体表现在:* 具备选择特定信号、灵活实施各类转换以及进行信号处理与运算的能力* 实现模数转换与数模转换功能* 在直流与交流、电压与电流信号之间进行灵活转换* 在幅值、相位、频率与脉宽信号等不同参数间进行转换* 实现量程调整功能* 对信号实施多样化的处理与运算,如计算平均值、差值、峰值、绝对值,进行求导数、积分运算等,以及实现非线性环节的线性化处理、逻辑判断等操作1.4测量电路输入信号类型对电路结构设计的影响测量电路的输入信号类型对其电路结构设计产生显著影响。 依据传感器的类型差异,输入信号的形态也呈现多样性。 主要可分为...
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