29、低功耗SSIC序列生成与基于树的数据挖掘入侵检测技术

低功耗SSIC序列生成与基于树的数据挖掘入侵检测技术

1. 低功耗SSIC序列生成相关研究

1.1 SIC序列与SSIC序列简介

在电路测试中，单输入变化（SIC）序列在某些故障类型的检测上比多输入变化（MIC）序列更有效。SIC序列可作为一种有效的内建自测试（BIST）方案，满足测试目标。通常，用于BIST的随机单输入变化（RSIC）测试模式生成器（TPG）主要由伪随机序列源电路和译码电路两部分组成，线性反馈移位寄存器（LFSR）常被用于生成伪随机序列，以控制RSIC生成器中的可变位。但RSIC序列存在一些问题，为解决这些问题，本文提出了顺序单输入变化（SSIC）序列及其相关特性。

1.2 SIC序列生成理论

1.2.1 SIC序列定义

设 $S$ 是一个测试序列：
$S = V(1)V(2)\cdots V(i)\cdots V(L)$
其中，$n$ 位且 $L$ 个连续测试向量 $V(i) = {v_n v_{n - 1}\cdots v_1}$ 构成序列 $S$。对于任意 $i > 1$，$V(i)$ 与 $V(i - 1)$ 仅在一位上不同，且在序列循环中当前变化位和前一个变化位不重复。

1.2.2 SIC序列生成原理

基于本原多项式的LFSR可生成M序列，常作为伪随机模式源。代码转换电路是另一个重要组件。在任意时刻 $t$，LFSR可生成 $m$ 位二进制代码 $R(t) = r_1(t) r_2(t)\cdots r_m(t)$，将其映射为十进制值 $d(t)$，且 $1 \leq d(t) \leq n$。通过代码转换电路将 $R(t)$ 转换