主要介绍了薄膜晶体管(TFT)在像素驱动中的时间和电阻约束条件。
1. 基本电路结构
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电路组成:
- V row V_{\text{row}} Vrow:行电压,用于选择行。
- V data V_{\text{data}} Vdata:数据电压,决定像素亮度。
- TFT:起到开关的作用,控制像素电容的充放电。
- C LC C_{\text{LC}} CLC:液晶电容(主要像素电容)。
- C S C_{\text{S}} CS:存储电容,用于稳定像素电压。
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TFT电阻:
- R ON R_{\text{ON}} RON:TFT在导通状态的电阻。
- R OFF R_{\text{OFF}} ROFF:TFT在关断状态的电阻。
2. 关断时间的约束 (Leakage Constraint)
- 当TFT关断时,像素电压会由于漏电流通过TFT的寄生电阻 R OFF R_{\text{OFF}} ROFF而发生泄漏。为确保像素电压保持稳定,泄漏量必须很小。
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像素电压的泄漏方程:
由于漏电流通过 R OFF R_{\text{OFF}} ROFF产生电压变化,时间约束可以表示为:
T OFF = R OFF ⋅ ( C LC + C S ) T_{\text{OFF}} = R_{\text{OFF}} \cdot (C_{\text{LC}} + C_{\text{S}}) TOFF=ROFF⋅(CLC+CS)
其中:- T OFF T_{\text{OFF}} TOFF:像素在TFT关断期间保持电压的时间。
- R OFF R_{\text{OFF}} ROFF:TFT关断状态的电阻。
- C LC C_{\text{LC}} CLC 和 C S C_{\text{S}} CS:总像素电容(包括液晶电容和存储电容)。
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确保泄漏电压小于1%:
为了保证像素电压在一帧时间 T FRAME T_{\text{FRAME}} TFRAME内的泄漏小于1%,有:
T OFF = T FRAME 0.01 T_{\text{OFF}} = \frac{T_{\text{FRAME}}}{0.01} TOFF=0.01TFRAME
结合泄漏时间公式:
R OFF = 100 T FRAME C LC + C S R_{\text{OFF}} = \frac{100 T_{\text{FRAME}}}{C_{\text{LC}} + C_{\text{S}}} ROFF=CLC+CS100TFRAME- 含义: R OFF R_{\text{OFF}} ROFF 必须足够大,以限制像素电压在关断期间的泄漏。
3. 导通时间的约束 (Charging Constraint)
- 当TFT导通时,它需要将数据电压 V data V_{\text{data}} Vdata快速加载到像素电容上。
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像素电压的充电时间方程:
在TFT导通期间,像素电压的充电时间与 R ON R_{\text{ON}} RON 和总电容有关:
T ROW_ADDRESS = 5 ⋅ T RC T_{\text{ROW\_ADDRESS}} = 5 \cdot T_{\text{RC}} TROW_ADDRESS=5⋅TRC
其中:- T ROW_ADDRESS T_{\text{ROW\_ADDRESS}} TROW_ADDRESS:一行像素的充电时间。
- T RC T_{\text{RC}} TRC:电阻-电容时间常数,表示充电过程的时间尺度。
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充电时间常数定义:
T RC = R ON ⋅ ( C LC + C S ) T_{\text{RC}} = R_{\text{ON}} \cdot (C_{\text{LC}} + C_{\text{S}}) TRC=RON⋅(CLC+CS) -
结合帧时间 (Frame Time):
在一帧时间内,每行的充电时间必须小于总时间的 1 N \frac{1}{N} N1(其中 N N N 是像素行数)。因此有:
T FRAME / N = 5 ⋅ R ON ⋅ ( C LC + C S ) T_{\text{FRAME}} / N = 5 \cdot R_{\text{ON}} \cdot (C_{\text{LC}} + C_{\text{S}}) TFRAME/N=5⋅RON⋅(CLC+CS)
整理得到:
R ON = T FRAME 5 N ( C LC + C S ) R_{\text{ON}} = \frac{T_{\text{FRAME}}}{5N (C_{\text{LC}} + C_{\text{S}})} RON=5N(CLC+CS)TFRAME- 含义: R ON R_{\text{ON}} RON 必须足够小,确保像素电容能够在规定时间内完成充电。
4. 导通/关断电阻比的约束
为了确保像素在导通和关断之间的切换性能良好, R ON R_{\text{ON}} RON 和 R OFF R_{\text{OFF}} ROFF 之间必须满足一定的比值关系:
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电阻比关系:
R OFF R ON ≥ 500 N \frac{R_{\text{OFF}}}{R_{\text{ON}}} \geq 500N RONROFF≥500N
其中:- N N N:行数(像素行数)。
- 500:经验系数,确保像素电压的稳定性。
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物理意义:
- R OFF R_{\text{OFF}} ROFF:需要足够大,防止像素电压泄漏过快。
- R ON R_{\text{ON}} RON:需要足够小,确保像素电容快速充电。
- 比值约束:保证TFT能够在一帧时间内完成充放电,同时维持像素电压的稳定性。
5. 像素电压稳定性的总结
通过以上推导,TFT的像素约束可以总结为:
- 关断电阻约束:
R OFF = 100 T FRAME C LC + C S R_{\text{OFF}} = \frac{100 T_{\text{FRAME}}}{C_{\text{LC}} + C_{\text{S}}} ROFF=CLC+CS100TFRAME - 导通电阻约束:
R ON = T FRAME 5 N ( C LC + C S ) R_{\text{ON}} = \frac{T_{\text{FRAME}}}{5N (C_{\text{LC}} + C_{\text{S}})} RON=5N(CLC+CS)TFRAME - 导通/关断电阻比:
R OFF R ON ≥ 500 N \frac{R_{\text{OFF}}}{R_{\text{ON}}} \geq 500N RONROFF≥500N
这些约束确保了TFT在显示器像素驱动中的稳定性和可靠性:
- R ON R_{\text{ON}} RON 小:快速充电。
- R OFF R_{\text{OFF}} ROFF 大:减少泄漏。
- 比值关系:确保切换时的性能。