当Fls中发生ECC故障时的处理方法(S32K146)

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#学习

于 2023-09-20 11:02:21 首次发布

本文介绍了如何在S32K146微控制器中模拟FlashECC故障并提供两种解决方法：一是通过Fls_Write模拟故障并更新状态机，二是直接擦除坏块。同时提到擦除可能影响Cluster信息，需注意初始化。

学习目标：

1、模拟FLASH ECC故障
2、解决ECC故障

学习内容：

1、模拟FLASH ECC故障
当Flash内容被意外篡改时（电磁干扰、低压写入），再去对flash进行如下操作时，就会产生ECC故障
在这里插入图片描述
发生该故障后，想要根据实际环境复现相当不容易，这个时候我们可以通过Fls_Write（）函数向Flash同一个地址，连续写入不同的数据来模拟ECC故障的产生，该方法实测有效。
补充：实际测试的时候发现不是所有sector重复写入时都能成功复现ECC故障，像保存cluster头信息的扇区写入时能更有效复现该故障。
2、解决ECC故障
根据NXP官方文档《AN12522》3.2 不可纠正错误的ECC，当Flash中产生ECC故障时
多bit错误和bus fasult错误都会导致程序进入HardFault_Handler，这也就意味着S32K146不能像S32K3x那样通过关闭ECC中断使能位来关闭该故障。
在这里插入图片描述
这个时候就只能在HardFault_Handler（）中添加程序来处理该故障。

void HardFault_Handler(void)
{
	//以下代码获取跑飞前的寄存器
	__asm__("MOVS R0, #4");
    __asm__("MOV R1, LR");
    __asm__("TST R1, R0");     // Test LR (EXC_RETURN[2])
    __asm__("ITE NE");
    __asm__("MRSNE R1, PSP");  // EXC_RETUR