43、(U)SIM 智能卡的自动测试生成

(U)SIM 智能卡的自动测试生成

1 引言

在任何行业中，开发过程中发现漏洞的时间越晚，修复成本就越高。在智能卡行业，测试工作占据了开发活动一半的精力。测试主要包括以下几种：
- 单元测试 ：由程序员在编程过程中进行，确保每个基本单元行为正确，排除基本编程错误。
- α 测试 ：编程活动完成后，由 α 测试人员进行，确保智能卡的行为符合规格书中描述的功能。
- β 测试 ：α 测试之后，由 β 测试人员进行，确保智能卡在手机、支付机或其他设备中也符合规格要求。

在这个漫长而复杂的手工测试过程中，我们希望研究部分测试的自动生成方法。我们首先考虑的是 α 测试活动，通过自动测试生成，期望提高测试的覆盖率和质量，确保规格的完全验证。此外，随着系统复杂性的增加，在项目的两个版本之间很难确定哪些测试发生了变化，哪些已经过时，非测试人员也难以理解生成的测试。因此，我们的想法是将自动测试生成与一种简单的形式化方法相结合，以表示测试规格及其演变。

验证所需的方法和工具并非新鲜事物，已经有很多研究致力于填补这方面的不足。半形式化和形式化方法，如 UML、B 或 SDL，允许对被测系统的行为规格进行抽象设计。借助简单、富有表现力和抽象的符号，无论是文本还是图形形式，我们可以轻松使用这些形式化方法来设计智能卡，并且这些方法还允许使用现有的验证工具。近年来，针对智能卡软件的设计和验证开展了多项研究。在我们的研究中，我们希望使用一种更简单、图形化的形式化方法，UML 由于其在行业中的广泛应用和多种类型的图表，成为了一个不错的选择。在众多自动测试生成器中，我们对