50、模拟IP保护与评估

模拟IP保护与评估

1. 数字部分锁定

在电路的数字部分锁定方面，峰值检测电路和计数器分别采用SFLL - HD0和RLL进行锁定。当输入对应于ADC的最大值时，峰值检测输出被设置为1，此值被视为受保护的输入模式。在SFLL - HD0中，密钥等同于受保护的输入模式。同时，为了在模拟和数字电路之间引入依赖关系，防御者使用2输入XOR密钥门。其中一个输入由连接到模拟电路的密钥驱动，另一个由连接到数字电路的密钥驱动。这些密钥门的输出控制着SFLL和RLL锁定的数字电路，确保攻击者无法孤立地破解模拟和数字部分。

2. 范围控制的浮栅晶体管

由于模拟电路对工艺变化敏感，因此提出了许多预制造和后制造技术来解决这个问题。预制造技术包括如共质心和交叉指状等布局设计；后制造技术则有调整组件参数和使用模拟浮栅晶体管（AFGTs）等。范围控制的浮栅晶体管技术利用AFGTs来防止模拟IC的未经授权使用，它包括一个两步的解锁和校准过程。

• 背景 ：模拟浮栅晶体管是具有电隔离栅极（浮栅）的标准MOS晶体管，浮栅由控制栅极电容（CCG）和隧道电容（CT un）形成，其中捕获的电荷会永久存储。晶体管的阈值电压（Vth）取决于浮栅中存储的电荷，通过添加或移除电荷可以相应地改变Vth。在运算跨导放大器（OTA）中，可利用AFGT对来校准差分对的Vth，直到输入差分电压相等且相反时输出失调电压为零。

• 防御架构

  • 威胁模型 ：攻击者是非法获取模拟IC的未经授权用户，该IC可能是回收