LVDS信号

文章详细介绍了LVDS(LowVoltageDifferentialSignaling)的速率计算,包括理想和实际情况下速率的计算方法。同时,讨论了LVDSTX和LVDSRX的电参数,以及一系列的测试,如全负载测试、短路测试、动态偏置电压测试和接收灵敏度测试,以确保LVDS信号的传输质量和效率。

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目录

LVDS 速率

理想LVDS 速率计算

实际LVDS 速率计算

LVDS TX信号的电参数

全负载测试(full load test measurements)

短路测试

对地或者(共模电压短路测试)

 对内短路测试

 输出信号波形

动态偏置电压测试

LVDS RX 测试

 无内置端接电阻的RX测试

接收输入电流VS电压测试

接收输入平衡测试

 内置端接电阻的RX测试

输入电流VS电压和输入阻抗测试

接收灵敏度测试


LVDS 速率

        LVDS其实没有定义传输速率,传输速率主要有TX和RX之间的传输媒介,RX对信号质量的要求,TX到RX传输延时等因素决定。理论上LVDS可以传输1.923Gbps的速率。

理想LVDS 速率计算

        LVDS  信号上升或者下降时间的要求是小于0.5 UI, 规范中要求TX发生的信号的上升和下降时间<260ps,最坏情况那就260ps。 所以,计算规范中定义的最传快输速率的是1/(tr+tf)=1/560ps=1.923Gbps。如果TX端的上升和下降时间越短,传输速率也当然会越高。

实际LVDS 速率计算

        实际上传输链路一定会有损耗,比如一根5米的cable,引入500ps的上升和下降沿损失,那么按照协议的要求RX端信号的上升和下降时间最少是500+260ps=760ps。按照传输速率的计算方法1/(tr+tf)=1/(760+760)=657Mbps。

        实际应用中,IO的设计人员可以根据实际传输速率设计TX端,比如应用只需要100Mbps的传输速率,那么TX端设计信号的上升和下降时间可以在信号UI 5%~30%,也就是500ps~3ns,经过链路后只要信号的上升和下降时间<5ns 就可以。毕竟越高速的设计成本和难度都越大。

        

LVDS TX信号的电参数

LVDS的IO电路结构如下:

LVDS 输出输入连接

 LVDS输出级

 LVDS输入级

LVDS输出级是电流型的,输入级是MOS管的Gate级,因此要产生电压需要在接收端进行端接。规规范要求用100ohm的电阻进行端接,流过100ohm电阻的典型电流是3.5mA,因此电阻两端的典型电压是350mV。

规范中定义电压范围是

(0)+250mV~+450mV  或者(1)-250mV~-450mV 。 

        

全负载测试(full load test measurements)

测试电路如下:

标题全负载测试电路

  1. 端接100ohm电阻。
  2. 两个3.74Kohm的电阻提供直流偏置Vtest。
  3. 测试过程输出固定0 或者 1
  4. 调节Vtest  从0到2.4V
  5. 确认A/B两端的电压是否符合以下要求。
标题全负载测试规格

偏置电压和平衡测试(Offset voltage and balance measurements)

测试电路如下:

标偏置电压和平衡测试电路
  1. 两个49.9ohm电阻最输出进行端接
  2. TX输出固定0 或者 1
  3. 测试两个电阻中间的电压,并确认是否符合以下要求。

标偏置电压和平衡测试规格

短路测试

对地或者(共模电压短路测试)

测试电路如下:

对地或者对共模短路测试电路
  1.  TX输出的正和负端分别对GND或者共模短路。
  2. 测试电流是否操作规格要求。
对GND或者共模短路测试规格

 对内短路测试

测试电路如下:

差分对内短路测试电路

  1.  TX输出的正和负端直接短路。
  2. 测试电流是否操作规格要求。
差分对内短路测试规格

 输出信号波形

测试电路如下:

  1. RL 要求99.8 ohm ±1 % 
  2. TX输出要求1010...翻转
  3. 确认波形的上下冲是否超过+/-20Vss 的要求。注意: Vss=2*Vt
  4. 确认波形的上升下降时间是否超过要求。注意上升和下降时间20%~80%的幅度。
  5. 确认波形的上升下降波形是否单调
输出信号过冲测试规格

输出信号上升和下降时间测试规格

动态偏置电压测试

测试电路如下:

动态偏置电压测试电路
  1.  通过两个49.9ohm的电阻进行端接
  2. TX输出要求1010...翻转
  3. 示波器要求带宽5Ghz以上,探头输入阻抗>1Kohm,寄生电容<1pF
  4. 测试两个49.9ohm电阻中间的电压在输出0 或1时候的电压值
  5. 确认电压的波动是否符合以下要求Vpp<150mV。
动态偏置电压测试

LVDS RX 测试

 无内置端接电阻的RX测试

接收输入电流VS电压测试

测试电路如下:

接收输入电流VS电压测试电路
  1.  Via 从0~2.4V变化,Vib保持1.2V+/-50mV, 测试Iia电流是否超过20uA 
  2.  Vib 从0~2.4V变化,Via保持1.2V+/-50mV, 测试Iib电流是否超过20uA
  3. 在RX 上电和断点的情况下分别进行测试

接收输入平衡测试

测试电路如下:

接收输入平衡测试
  1. Vtest 从0V 到2.4V变化
  2. IA-IB的绝对值要求小于6uA

 内置端接电阻的RX测试

输入电流VS电压和输入阻抗测试

测试电路如下:

输入电流VS电压和输入阻抗测试

测试规格和电路中开关位置如下

阻抗要求90ohm~132ohm

接收灵敏度测试

 测试电路和要求如下:

  1. 在输入共模电压0.05V~2.35V的范围内,RX 要能接收100mV~600mV范围内信号并正常工作。
  2. 单端输入电压范围0~2.4V 不能最电路造成损害

测试表格如下:

<think>嗯,用户想了解LVDS IO信号的测试方法,需要根据提供的引用内容来回答。首先,我得先理清楚用户的问题到底是什么。他们可能是在使用FPGA开发板时遇到了LVDS无法输出的问题,所以需要测试方法来找原因。根据引用里的信息,特别是引用[1]提到A7-35T的bank16的LVDS无法输出,这可能跟硬件配置或设计规范有关。 然后,用户需要测试方法教程,可能需要包括输入输出测试、信号完整性测试、短路测试等。引用[1]提到了UG471中的内容,应该涉及FPGA的配置是否正确,比如Bank电压、引脚分配是否正确。引用[2]提到差分对短路测试的方法和规格,可能需要用万用表测量阻抗,或者观察波形是否正常。引用[3]则关于延时调整,这可能涉及到时序分析,比如用示波器检查数据和时钟的同步。 接下来,我需要组织步骤,确保覆盖所有可能的测试点。首先应该是硬件配置检查,确保电压和引脚设置正确。然后进行输入输出测试,比如回环测试,检查能否正常收发。接着是信号完整性测试,用示波器看波形参数是否符合LVDS标准,比如摆幅、共模电压等。还有短路测试,确保差分对没有短路或开路。时序测试也很重要,特别是高速传输时的建立保持时间。可能还需要软件配置检查,比如FPGA的驱动强度和终端匹配电阻是否正确。 需要注意的是,用户可能遇到的问题可能涉及多个方面,比如硬件连接错误、配置错误或信号完整性问题。因此,在回答时要分步骤详细说明每个测试方法,并引用相关的资料作为支持。同时,生成的相关问题要围绕用户可能进一步关心的点,比如如何解决无输出、调试信号完整性、调整电路延迟等。 最后,确保回答结构清晰,步骤明确,引用正确,并且语言通俗易懂,避免使用过多专业术语,但必要时给出术语解释。这样用户能一步步按照教程进行测试,定位问题所在。</think>LVDS IO信号测试方法可分为硬件检测、信号完整性测试和时序验证三个主要步骤,以下是具体操作流程: ### 一、硬件配置检查 1. **Bank电压验证** 确认FPGA Bank供电电压满足LVDS标准(通常1.8V或2.5V),使用万用表测量Bank16的Vcco电压是否符合设计要求[^1] 2. **引脚分配确认** 检查差分对是否严格遵循P/N配对原则,例如在A7-35T芯片中,bank16的IO需按手册指定的差分对进行分配 3. **终端匹配检测** 用万用表测量差分线末端100Ω匹配电阻的阻值,确保误差在±5%范围内 ```python # 示例:通过寄存器读取Bank电压状态(伪代码) def check_bank_voltage(bank_num): vcco = read_register(0x1A40 + bank_num) return (vcco == 0x18) # 返回1.8V状态 ``` ### 二、信号完整性测试 1. **差分波形测量** 使用≥1GHz带宽示波器,连接差分探头测量: - 差分电压摆幅:应满足$V_{diffpp} = 350mV \pm 10\%$ - 共模电压范围:$V_{cm} = 1.125V \pm 100mV$ - 上升/下降时间:不超过数据速率的1/3[^2] 2. **短路测试** 将TX+/TX-用50Ω电阻短接,测量输出电流是否≤3.5mA(典型值),若电流超标需检查驱动电路 3. **眼图测试** 使用高速示波器的眼图模式,验证在最大速率下眼高>200mV,眼宽>0.7UI ### 三、时序验证 1. **建立/保持时间测试** 通过注入可调延迟信号,测量数据有效窗口: $$ t_{SU} = t_{CLK} - t_{DATA\_VALID} > 150ps \\ t_{HOLD} = t_{DATA\_HOLD} - t_{CLK} > 100ps $$ 2. **通道间偏移测量** 多通道系统需测量各差分对间的时序偏移,建议使用TDR(时域反射计)保持偏移<50ps 3. **误码率测试** 通过PRBS码型发生器进行24小时压力测试,要求BER<1e-12
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