RIDED - 2D的原理、应用及性能评估
1. 概述
在许多工业应用中,高分辨率测距仪常被用于扫描大型目标。不过,由于测距仪视角固定,扫描得到的特征点与实际物理特征点可能无法精确重合,但这些近似特征点在低精度场合仍能满足需求,并且可以基于这些点进一步优化位置以提高精度。
2. 瞬时去噪与边缘检测原理
2.1 噪声分类与大噪声去噪
激光测距仪获取的扫描线中的噪声可分为随机大噪声(LNs)和系统噪声。系统噪声幅度较小,只会使扫描线产生微小波动,而大噪声则会在平滑线上产生明显的脉冲。大噪声在室内可能由物体表面的暗点或镜面点引起,在室外可能由雪花、雨滴、灰尘或扫描仪窗口上的斑点导致。
| 项目 | 平滑 | 脉冲 | 峰/谷 | 脊/谷 | 阶跃 | 跳跃 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Δθi | S/M | VL | L | L | L | L |
| ΔDPPi | S | S/M | S/M | S/M | L | VL |
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