电源管理芯片的阻值活跃期往往在运用的前几百小时。nxp电源管理芯片用的越久越不乱。这是由于跟着时刻的推移,芯片元件自身趋于稳定,或许芯片元件与基板之间的应力会逐渐释放。负载寿命方针只能以样品测验的形式进行测验,由于这个测验至少需求1000小时,而电源管理芯片的运用或许需求长达10000小时的测验,而这个测验是破坏性试验。给芯片供电是必不可少的,让芯片趋于稳定,但会改变芯片的阻值。
所以,只需老批号的芯片在标称值以内,焊脚没有被氧化,稳定性就比新批号的芯片要好。nxp电源管理芯片的寄存要特别注意湿度操控。湿度会对任何芯片的电阻产生很大影响。例如,对于各种膜片,一旦水分进入,就会在芯片层上形成电解质,严重影响芯片的阻值。

随着使用时间的增加,NXP电源管理芯片变得更加稳定,因为元件自身和基板间的应力逐渐释放。负载寿命测试通常需要1000小时以上,而实际应用可能需要更长时间。湿度对芯片电阻有显著影响,可能导致电阻变化。因此,旧批次且在标称值内的芯片往往比新批次的更稳定。正确存储和控制湿度对于保持芯片性能至关重要。
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